變(bian)頻介質損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi)現(xian)場試(shi)驗(yan)註(zhu)意(yi)事項(xiang)

變(bian)頻介質損(sun)耗(hao)測(ce)試(shi)儀(yi)現(xian)場試(shi)驗(yan)註(zhu)意(yi)事項(xiang)

如果使(shi)用中出(chu)現(xian)測試(shi)數(shu)據(ju)明(ming)顯(xian)不合(he)理(li)，請從以下方(fang)面(mian)查(zha)找原(yuan)因：

1、高壓線(xian)大紅夾(jia)子接觸不良(liang)

現(xian)場測(ce)量使(shi)用大紅夾(jia)子連(lian)接試(shi)品(pin)時，大紅夾(jia)子務(wu)必(bi)與試(shi)品(pin)接觸良(liang)好，否則接觸點(dian)放(fang)電(dian)會(hui)引起數(shu)據(ju)嚴(yan)重波動！尤(you)其是引流線(xian)氧(yang)化層(ceng)太厚(hou)，請(qing)刮(gua)壹下外(wai)皮以免接觸不良(liang)。

2、接地(di)接觸不良(liang)

接地(di)不良(liang)會(hui)引起儀(yi)器保護或(huo)數(shu)據(ju)嚴(yan)重波動。應刮凈(jing)接地(di)點(dian)上的(de)油(you)漆(qi)和銹蝕，務必(bi)保證0電阻接地(di)！

3、直接測(ce)量CVT或(huo)末端屏(ping)蔽法(fa)測量電(dian)磁式PT

直接測(ce)量CVT的(de)下節(jie)耦合(he)電容(rong)會出現(xian)負介損(sun)，應改(gai)用自激法(fa)。

用末(mo)端屏(ping)蔽法(fa)測量電(dian)磁式PT時，由(you)於(yu)受(shou)潮(chao)引起“T形(xing)網絡(luo)幹(gan)擾(rao)"出(chu)現(xian)負介損(sun)，吹(chui)幹下面(mian)三(san)裙(qun)瓷套和接線(xian)端子盤即可。也可改(gai)用常(chang)規法或(huo)末端加(jia)壓法(fa)測量。

4、空(kong)氣(qi)濕(shi)度(du)過大

空(kong)氣(qi)濕(shi)度(du)大使介損(sun)測量值異(yi)常增大（或減小(xiao)甚至為負）且不穩(wen)定(ding)，必(bi)要時可加(jia)屏(ping)蔽環(huan)。因人(ren)為加(jia)屏(ping)蔽環(huan)改(gai)變了(le)試(shi)品(pin)電場(chang)分(fen)布，此(ci)法有(you)爭議(yi)，可參照有(you)關規程(cheng)。

5、發(fa)電(dian)機(ji)供(gong)電

發(fa)電(dian)機(ji)供(gong)電時輸出(chu)電(dian)壓不穩(wen)定(ding)，而(er)且(qie)有(you)高壓毛(mao)刺，可能造成誤接380V保護啟動。可以在(zai)發(fa)電機(ji)的輸出(chu)端多串(chuan)聯(lian)幾(ji)個(ge)電源(yuan)濾波(bo)器(qi)，能夠(gou)解(jie)決(jue)這個(ge)問題(ti)。

6、測(ce)試(shi)線(xian)

由(you)於(yu)長期使(shi)用，易造成測試(shi)線(xian)隱(yin)性(xing)斷路，或芯(xin)線和屏(ping)蔽短路，或(huo)插(cha)頭(tou)接觸不良(liang)，用戶(hu)應經常維(wei)護測(ce)試(shi)線(xian)；

測(ce)試(shi)標準(zhun)電(dian)容(rong)試(shi)品(pin)時，應使用全(quan)屏(ping)蔽插(cha)頭(tou)連(lian)接，以消(xiao)除附加(jia)雜散(san)電(dian)容(rong)影響，否則不能反(fan)映(ying)出儀(yi)器精(jing)度(du)；

自激法(fa)測(ce)量CVT時，非(fei)專(zhuan)用的(de)高壓線(xian)應吊起(qi)懸(xuan)空(kong)，否則對地附(fu)加(jia)雜散(san)電(dian)容(rong)和介損(sun)會引起測(ce)量誤差。

7、工(gong)作模式選擇(ze)

接好線(xian)後請選(xuan)擇(ze)正(zheng)確的測(ce)量工(gong)作模式（正(zheng)、反(fan)和(he)CVT），不可選錯(cuo)。特(te)別(bie)是幹(gan)擾(rao)環(huan)境下應選用變(bian)頻抗(kang)幹擾(rao)模(mo)式(shi)。 

8、試(shi)驗(yan)方(fang)法影響

由(you)於(yu)介損(sun)測量受(shou)試(shi)驗(yan)方(fang)法影響較(jiao)大，應區分(fen)是試(shi)驗(yan)方(fang)法誤差還是儀(yi)器(qi)誤差。出現(xian)問題(ti)時可首先(xian)檢(jian)查(zha)接線(xian)，然(ran)後(hou)檢(jian)查(zha)是否為儀器故(gu)障。

9、儀(yi)器(qi)故(gu)障

用萬(wan)用表測量壹(yi)下測(ce)試(shi)線(xian)是否斷路，或芯(xin)線和屏(ping)蔽是否短路；輸入(ru)電(dian)源220V過高或過低；接地(di)是否良(liang)好。

用正(zheng)、反(fan)接線(xian)測(ce)壹下標準(zhun)電(dian)容(rong)器或已(yi)知容(rong)量和(he)介損(sun)的電容(rong)試(shi)品(pin)，如果結(jie)果正(zheng)確，即可判斷儀器沒有(you)問題(ti)；

拔(ba)下所有(you)測試(shi)導(dao)線，進(jin)行空(kong)試(shi)升壓，若(ruo)不能正(zheng)常(chang)工作，儀器可能有(you)故(gu)障。