變(bian)頻(pin)互感(gan)器(qi)測(ce)試儀(yi)特(te)點(dian)與(yu)參(can)數(shu)

變(bian)頻互感(gan)器(qi)測(ce)試儀(yi)是在(zai)本(ben)公司開發(fa)的(de)、廣(guang)受贊(zan)譽(yu)並(bing)大(da)量應(ying)用的LF系(xi)列多(duo)功(gong)能互感(gan)器(qi)綜(zong)合(he)測試儀(yi)基礎上(shang)，廣(guang)泛聽取(qu)用(yong)戶(hu)意(yi)見、經(jing)過大(da)量的市(shi)場(chang)調研、深(shen)入進(jin)行理(li)論(lun)研究之(zhi)後(hou)研發(fa)的(de)新壹代革新型(xing)CT、PT測(ce)試儀(yi)器(qi)。裝(zhuang)置采用(yong)高(gao)性能DSP和ARM、*的(de)制造工藝，保(bao)證了(le)產品性(xing)能穩定(ding)可(ke)靠、功能完備、自(zi)動(dong)化程度高(gao)、測試效(xiao)率高(gao)、是電(dian)力(li)行(xing)業用於(yu)互(hu)感(gan)器(qi)的(de)專(zhuan)業測試儀(yi)器(qi)。

功(gong)能特(te)點(dian)

★ 功(gong)能全(quan)面(mian)，既滿足各(ge)類(lei)CT（如(ru)：保(bao)護類、計(ji)量類、TP類(lei)）的(de)勵磁特(te)性(xing)（即(ji)伏安特(te)性(xing)）、變(bian)比(bi)、極(ji)性、二次繞(rao)組(zu)電(dian)阻(zu)、二次負(fu)荷(he)、比(bi)差以及角(jiao)差等(deng)測試要(yao)求(qiu)，又(you)可(ke)用於(yu)各(ge)類(lei)PT電(dian)磁單元的(de)勵磁特(te)性(xing)、變(bian)比(bi)、極(ji)性、二次繞(rao)組(zu)電(dian)阻(zu)等(deng)測試。

★ 自(zi)動(dong)給出(chu)拐點電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu)、10%(5%)誤(wu)差曲線、準(zhun)確(que)限(xian)值系數(shu)（ALF）、儀(yi)表保(bao)安系(xi)數(shu)（FS）、二次時(shi)間(jian)常(chang)數(shu)(Ts)、剩磁系(xi)數(shu)(Kr)、飽(bao)和(he)及不(bu)飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)等(deng)CT、PT參(can)數(shu)。

★ 測(ce)試滿(man)足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等(deng)各類(lei)互(hu)感(gan)器(qi)標(biao)準(zhun)，並(bing)依照互(hu)感(gan)器(qi)類(lei)型(xing)和(he)級(ji)別(bie)自(zi)動(dong)選(xuan)擇何種標準(zhun)進(jin)行(xing)測試。

★ 基於*的低頻法測試原(yuan)理，能應(ying)對拐點(dian)高(gao)達(da)60KV的(de)CT測試。

★ 界(jie)面友好(hao)美觀(guan)，全(quan)中文(wen)圖形(xing)界面(mian)。

★ 裝(zhuang)置可(ke)存儲(chu)2000組(zu)測試數(shu)據(ju)，掉電(dian)不(bu)丟(diu)失。試驗(yan)完(wan)畢(bi)後(hou)用U盤(pan)存(cun)入(ru)PC機(ji)，用軟(ruan)件(jian)進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)分(fen)析，並(bing)生成WORD報(bao)告。

★ 測(ce)試簡單方便，壹(yi)鍵(jian)完成(cheng)CT直(zhi)阻(zu)、勵磁、變(bian)比(bi)和(he)極(ji)性測(ce)試，而(er)且除(chu)了負(fu)荷(he)測(ce)試外(wai)，CT其(qi)他(ta)各(ge)項測(ce)試都(dou)是采用(yong)同(tong)壹種(zhong)接(jie)線(xian)方式(shi)。

★ 易(yi)於(yu)攜帶，裝(zhuang)置重(zhong)量<10Kg。

技術(shu)指標(biao)