無(wu)線(xian)氧化鋅(xin)避(bi)雷(lei)器(qi)帶(dai)電測試儀(yi)測(ce)量原(yuan)理

無線(xian)氧化鋅(xin)避(bi)雷(lei)器(qi)帶(dai)電測試儀(yi)適用於(yu)各個(ge)電壓(ya)等級(ji)的(de)氧化鋅(xin)避(bi)雷(lei)器(qi)的(de)現(xian)場帶電檢(jian)測(ce)以(yi)及停(ting)電(dian)狀(zhuang)態下(xia)試驗室(shi)做(zuo)的(de)出廠(chang)和驗收(shou)試(shi)驗(yan)。通(tong)過(guo)測(ce)量全(quan)電流及阻(zu)性電(dian)流等參(can)數，可(ke)以及時發(fa)現(xian)氧化鋅(xin)避(bi)雷(lei)器(qi)內(nei)部(bu)絕(jue)緣受(shou)潮和閥片老(lao)化等(deng)危險缺(que)陷。

無線(xian)氧化鋅(xin)避(bi)雷(lei)器(qi)帶(dai)電測試儀(yi)測(ce)量原(yuan)理

1．測量原(yuan)理

輸入(ru)電流電壓(ya)經(jing)過(guo)數(shu)字濾波後，取出基波，然(ran)後用投(tou)影(ying)法計算出阻(zu)性電(dian)流基波峰值Ir1p=Ix1p.cosφ，因(yin)基波數(shu)值穩(wen)定，故(gu)目(mu)前(qian)普(pu)遍(bian)采(cai)用Ir1p衡(heng)量避(bi)雷(lei)器(qi)性(xing)能(neng)。

總電流基波峰值Ix1p在(zai)電(dian)壓(ya)基波U1（E1）方(fang)向投影(ying)為Ir1p，在(zai)垂(chui)直(zhi)方(fang)向投影(ying)為Ic1p，φ為(wei)電(dian)流電壓(ya)基波相位角，其(qi)中包含(han)選定(ding)的(de)補(bu)償角度(du)。因此(ci)，用φ和Ir1p均能(neng)直(zhi)觀(guan)衡(heng)量MOA性(xing)能(neng)。

2．相間(jian)幹擾

現(xian)場測量時(shi)，壹(yi)字排列(lie)的(de)避(bi)雷(lei)器(qi)，中間(jian)B相通(tong)過(guo)雜(za)散(san)電(dian)容(rong)對A、C泄漏電(dian)流產生(sheng)影(ying)響(xiang)，使(shi)A相φ減小，阻(zu)性電(dian)流增大(da)，C相φ增大(da)，阻性(xing)電流減小甚(shen)至(zhi)為(wei)負，這種現(xian)象稱(cheng)相間(jian)幹擾。

壹(yi)種方法是補償相間(jian)幹擾：假設(she)Ia、Ic無幹擾(rao)時(shi)相位相差120°，假設(she)B相對A、C相幹擾(rao)是相同(tong)的(de)；

將電壓取B相，電流取C相，測得φ1=φcb；再(zai)將電流取A相，測得φ1=φab；則C相電流與(yu)A相電流之間(jian)的(de)相位差φca=φcb-φab；

選擇(ze)校正(zheng)角Dφ=(φca -120°) / 2，將此值在(zai)主菜(cai)單中置(zhi)入(ru)儀器(qi)即(ji)可(ke)；

選擇(ze)好相序(xu)，儀(yi)器(qi)會根據所選相序(xu)自(zi)動進行角度(du)補償(chang)（A相加(jia)Dφ，B相不要補(bu)償(chang)即選0，C相減Dφ）

也(ye)可(ke)不必補(bu)償(chang)相間(jian)幹擾(即補(bu)償角度(du)為0)，從(cong)阻性電流的(de)變化趨(qu)勢(shi)判斷(duan)避(bi)雷(lei)器(qi)性(xing)能(neng)。

如(ru)果(guo)允許(xu)，可(ke)以只給(gei)待測相加(jia)電，以取得絕(jue)對數據(ju)。而試驗室測量不必考(kao)慮(lv)相間(jian)幹擾。

3．避(bi)雷(lei)器(qi)性(xing)能(neng)判斷(duan)

避(bi)雷(lei)器(qi)性(xing)能(neng)可(ke)以從(cong)阻性電流基波峰值Ir1p判斷(duan)，但(dan)從(cong)電流電壓(ya)角度(du)Φ判斷(duan)更有效(xiao)，因為(wei)90°-Φ相當(dang)於(yu)介損(sun)角。如(ru)果(guo)規(gui)定阻性電流小於(yu)總電(dian)流的(de)25%，對應的(de)φ為(wei)75°；

無相間(jian)幹擾時：

有相間(jian)幹擾時，產(chan)生誤(wu)差：

實際測(ce)量時(shi)應考慮(lv)此誤(wu)差影(ying)響(xiang)，盡管有此(ci)相間(jian)幹擾誤差，但(dan)判斷(duan)MOA性能(neng)還(hai)是可(ke)行的(de)。如(ru)僅(jin)用(yong)Ir1p判斷(duan)，在90°附(fu)近會有若(ruo)幹倍的(de)變化，此(ci)時不如(ru)直(zhi)接(jie)查看(kan)角度(du)更合理(li)。