
1、概(gai)述:
本(ben)儀器采用(yong)ARM控制(zhi)配合(he)CPLD芯片產生高(gao)精(jing)度、寬範(fan)圍(wei)的(de)定時信號,並(bing)能(neng)模擬高(gao)壓斷路(lu)器的(de)動(dong)作(zuo),可(ke)用(yong)於(yu)校驗(yan)和(he)檢(jian)測高壓斷路(lu)器動(dong)特性測試(shi)儀的(de)時間基準,用(yong)於(yu)校驗(yan)高壓開關(guan)測試(shi)儀時間測量功能(neng)。本(ben)裝(zhuang)置(zhi)既(ji)可(ke)單(dan)機(ji)使用(yong),也可(ke)以(yi)聯接(jie)電腦使用(yong)。具體(ti)可(ke)以(yi)參考軟件操(cao)作(zuo)說(shuo)明(ming)。
2、主(zhu)要(yao)技術指標和(he)使用(yong)條件(jian):
2.1 本(ben)裝(zhuang)置(zhi)可(ke)12路(lu)斷口同時輸出(chu),可(ke)同(tong)時模擬12個(ge)高(gao)壓斷路(lu)器觸(chu)頭斷(duan)口的(de)合(he)/分閘。
2.2 可(ke)同(tong)時模擬高(gao)壓斷路(lu)器合閘或分閘時間,可(ke)在 1-16777215μs範(fan)圍(wei)內(nei)任(ren)意設(she)置(zhi),分辨率(lv):1μs,
精(jing)度:0.001%讀數±1μs。
2.3 彈(dan)跳脈沖個數(shu)可(ke)在 0-250 個範(fan)圍(wei)內(nei)任(ren)意設(she)置(zhi),彈(dan)跳頻(pin)率1kHz、2kHz、4kHz、8kHz可(ke)選(xuan)擇。
2.4 支持不(bu)同期(qi)測試(shi)。
2.5 支持內(nei)部(bu)觸(chu)發、外(wai)部(bu)觸(chu)發、有(you)源(yuan)觸(chu)發、無(wu)源(yuan)觸(chu)發。
2.6 環境(jing)溫度:10-30度(du) 環境(jing)濕度:小(xiao)於(yu)85%
上(shang)壹(yi)篇(pian):開關(guan)櫃(gui)通電試(shi)驗(yan)臺(tai)如(ru)何操(cao)作(zuo)使用(yong)
下(xia)壹(yi)篇(pian):隔(ge)離(li)開(kai)關(guan)觸(chu)指壓力測試(shi)儀技術參數有以下(xia)幾點(dian)
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