
壹(yi)、局(ju)部(bu)放電(dian)的(de)定(ding)義及產(chan)生原因(yin)
在(zai)電(dian)場(chang)作用下(xia),絕緣系統(tong)中只(zhi)有部(bu)分區域(yu)發(fa)生放電(dian),但(dan)尚(shang)未(wei)擊(ji)穿(chuan),(即(ji)在(zai)施加電(dian)壓(ya)的(de)導(dao)體之間沒(mei)有擊(ji)穿(chuan))。這(zhe)種(zhong)現(xian)象(xiang)稱之為(wei)局(ju)部放電(dian)。局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)可(ke)能(neng)發(fa)生在(zai)導(dao)體邊上,也(ye)可(ke)能(neng)發(fa)生在(zai)絕緣體的(de)表(biao)面上和內部(bu),發(fa)生在(zai)表(biao)面(mian)的(de)稱(cheng)為表面局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)。發(fa)生在(zai)內部(bu)的(de)稱(cheng)為內部(bu)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)。而(er)對於(yu)被(bei)氣體包(bao)圍(wei)的(de)導(dao)體附(fu)近(jin)發(fa)生的(de)局(ju)部放電(dian),稱(cheng)之(zhi)為(wei)電(dian)暈(yun)。由(you)此 總(zong)結壹(yi)下(xia)局(ju)部放電(dian)的(de)定(ding)義,指(zhi)部分的(de)橋(qiao)接(jie)導(dao)體間絕緣的(de)壹(yi)種(zhong)電(dian)氣放電(dian),局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)產(chan)生(sheng)原因(yin)主要(yao)有以(yi)下(xia)幾(ji)種:
1、電(dian)場(chang)不均(jun)勻(yun)。
2、電(dian)介(jie)質不均(jun)勻(yun)。
3、制造(zao)過程(cheng)的(de)氣泡或雜(za)質。最(zui)經(jing)常發(fa)生放電(dian)的(de)原因(yin)是絕緣體內部(bu)或表面存在(zai)氣泡;其次(ci)是(shi)有些設(she)備的(de)運行過程(cheng)中(zhong)會(hui)發(fa)生熱脹(zhang)冷(leng)縮,不同(tong)材料特(te)別(bie)是導(dao)體與介(jie)質的(de)膨(peng)脹系數不同(tong),也(ye)會(hui)逐(zhu)漸(jian)出現(xian)裂(lie)縫;再有壹(yi)些是(shi)在(zai)運行過程(cheng)中(zhong)有機高(gao)分子的(de)老(lao)化,分解出各(ge)種(zhong)揮發(fa)物,在(zai)高(gao)場強(qiang)的(de)作用下(xia),電(dian)荷不斷(duan)地由(you)導(dao)體進入介(jie)質中, 在(zai)註入點(dian)上就會(hui)使介(jie)質氣化。
二、局部(bu)放電(dian)的(de)測(ce)量原理
局放(fang)儀運用的(de)原理是脈(mai)沖電(dian)流(liu)法(fa)原理,即(ji)產生(sheng)壹(yi)次(ci)局(ju)部放電(dian)時,試品Cx兩端(duan)產(chan)生壹(yi)個(ge)瞬時電(dian)壓(ya)變(bian)化Δu,此時若經(jing)過電(dian)Ck耦(ou)合(he)到(dao)壹(yi)檢(jian)測(ce)阻抗Zd上(shang),回路(lu)就會(hui)產(chan)生(sheng)壹(yi)脈(mai)沖電(dian)流(liu)I,將(jiang)脈(mai)沖電(dian)流(liu)經(jing)檢測(ce)阻(zu)抗產(chan)生(sheng)的(de)脈(mai)沖電(dian)壓(ya)信(xin)息(xi),予以檢測、放(fang)大和顯示(shi)等(deng)處理,就可(ke)以測(ce)定局(ju)部放電(dian)的(de)壹(yi)些基本參量(主要(yao)是(shi)放電(dian)量q)。在(zai)這(zhe)裏(li)需要(yao)指(zhi)出的(de)是(shi),試品內部(bu)實(shi)際的(de)局(ju)部放電(dian)量是無法(fa)測量的(de),因(yin)為試品內部(bu)的(de)局(ju)部放電(dian)脈(mai)沖的(de)傳(chuan)輸路(lu)徑(jing)和方向是(shi)極(ji)其復(fu)雜(za)的(de),因(yin)此我們只有通(tong)過(guo)對(dui)比(bi)法(fa)來(lai)檢測試品的(de)視在(zai)放(fang)電(dian)電(dian)荷,即(ji)在(zai)測(ce)試(shi)之(zhi)前(qian)先在(zai)試(shi)品(pin)兩(liang)端(duan)註入壹(yi)定(ding)的(de)電(dian)量,調節(jie)放(fang)大倍數來(lai)建(jian)立標(biao)尺(chi),然(ran)後將(jiang)在(zai)實(shi)際電(dian)壓(ya)下(xia)收(shou)到(dao)的(de)試(shi)品內部(bu)的(de)局(ju)部放電(dian)脈(mai)沖和標尺(chi)進行對比(bi),以此來(lai)得到(dao)試品(pin)的(de)視在(zai)放(fang)電(dian)電(dian)荷。
電(dian)話(hua)
微(wei)信(xin)掃(sao)壹(yi)掃(sao)