變(bian)頻(pin)互感(gan)器(qi)特(te)性測試(shi)儀(yi)裝置特(te)點(dian)與(yu)參(can)數(shu)

產(chan)品概述

變(bian)頻(pin)互感(gan)器(qi)測試(shi)儀(yi)是(shi)在本公(gong)司(si)開(kai)發(fa)的、廣受(shou)贊(zan)譽(yu)並大(da)量(liang)應(ying)用(yong)的LF系列(lie)多(duo)功(gong)能互(hu)感(gan)器(qi)綜合(he)測試(shi)儀(yi)基(ji)礎(chu)上，廣(guang)泛(fan)聽取用(yong)戶意(yi)見、經過大(da)量(liang)的市場(chang)調研、深(shen)入(ru)進(jin)行(xing)理(li)論(lun)研(yan)究之後研(yan)發(fa)的新壹代革(ge)新型CT、PT測試(shi)儀(yi)器(qi)。裝置采用(yong)高(gao)性能DSP和(he)ARM、先進(jin)的制造(zao)工藝，保(bao)證了(le)產(chan)品性能穩(wen)定可靠(kao)、功(gong)能(neng)完備(bei)、自(zi)動化(hua)程度高(gao)、測試(shi)效(xiao)率高(gao)、在國(guo)內(nei)處於水平(ping)，是(shi)電(dian)力行(xing)業用(yong)於互感(gan)器(qi)的專(zhuan)業測試(shi)儀(yi)器(qi)。

裝置特(te)點(dian)與(yu)參(can)數(shu)

變(bian)頻(pin)式互(hu)感(gan)器(qi)綜合(he)測試(shi)儀(yi) 是(shi)在本公(gong)司(si)開(kai)發(fa)的、廣受(shou)贊(zan)譽(yu)並大(da)量(liang)應(ying)用(yong)的工頻(pin)式互(hu)感(gan)器(qi)多功(gong)能(neng)全(quan)自(zi)動綜合(he)測試(shi)儀(yi)基(ji)礎(chu)上，廣(guang)泛(fan)聽取用(yong)戶意(yi)見、經過大(da)量(liang)的市場(chang)調研、深(shen)入(ru)進(jin)行(xing)理(li)論(lun)研(yan)究之後研(yan)發(fa)的新壹代革(ge)新型CT、PT測試(shi)儀(yi)器(qi)。裝置采用(yong)高(gao)性能DSP和(he)ARM、先進(jin)的制造(zao)工藝，保(bao)證了(le)產(chan)品性能穩(wen)定可靠(kao)、功(gong)能(neng)完備(bei)、自(zi)動化(hua)程度高(gao)、測試(shi)效(xiao)率高(gao)、在國(guo)內(nei)處於水平(ping)，是(shi)電(dian)力行(xing)業用(yong)於互感(gan)器(qi)的專(zhuan)業測試(shi)儀(yi)器(qi)。

1.1 主要技(ji)術(shu)特(te)點(dian)

★功(gong)能(neng)全(quan)面，既滿足(zu)各(ge)類(lei)CT（如：保(bao)護類、計量(liang)類(lei)、TP類(lei)）的勵磁(ci)特(te)性（即伏(fu)安特(te)性）、變(bian)比、極性、二次(ci)繞(rao)組電(dian)阻(zu)、二次(ci)負荷(he)、比差以(yi)及(ji)角(jiao)差等(deng)測試(shi)要求，又可用(yong)於各(ge)類(lei)PT電磁(ci)單元(yuan)的勵磁(ci)特(te)性、變(bian)比、極性、二次(ci)繞(rao)組電(dian)阻(zu)、比差以(yi)及(ji)角(jiao)差等(deng)測試(shi)。

★自(zi)動給(gei)出(chu)拐(guai)點電壓/電(dian)流(liu)、10%(5%)誤(wu)差曲(qu)線、準確限值(zhi)系數(shu)（ALF）、儀(yi)表保(bao)安系數(shu)（FS）、二次(ci)時間常(chang)數(shu)(Ts)、剩磁(ci)系數(shu)(Kr)、飽(bao)和(he)及(ji)不飽和(he)電感(gan)等(deng)CT、PT參(can)數(shu)。

★測試(shi)滿(man)足GB1208（IEC60044-1）、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等(deng)各(ge)類(lei)互感(gan)器(qi)標準，並依(yi)照互感(gan)器(qi)類型(xing)和(he)級別自(zi)動選(xuan)擇(ze)何(he)種標準進(jin)行(xing)測試(shi)。

★基(ji)於先進(jin)的低(di)頻(pin)法測試(shi)原(yuan)理(li)，能應對拐(guai)點高(gao)達30KV的CT測試(shi)。

★界(jie)面友(you)好美觀，全中(zhong)文圖形界(jie)面。

★裝置可存儲(chu)2000組測試(shi)數(shu)據(ju)，掉(diao)電不丟失。試(shi)驗(yan)完畢(bi)後(hou)用(yong)U盤存入(ru)PC機，用(yong)軟件(jian)進(jin)行(xing)數(shu)據(ju)分(fen)析，並(bing)生成WORD報(bao)告(gao)。

★測試(shi)簡(jian)單方(fang)便，壹鍵完成CT直(zhi)阻、勵磁(ci)、變(bian)比和(he)極性測試(shi)，而且除了負荷(he)測試(shi)外(wai)，CT其(qi)他(ta)各(ge)項(xiang)測試(shi)都(dou)是(shi)采用(yong)同壹種接線方(fang)式。

★易(yi)於攜(xie)帶，裝置重(zhong)量(liang)<8.2Kg。