土壤(rang)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)儀操作(zuo)方法

操作方法(fa)

1．開關機

按功能選擇鍵(jian)旋轉到(dao)相(xiang)應檔(dang)位(wei)實(shi)現開(kai)機，旋(xuan)轉到(dao)OFF位(wei)置(zhi)關機。開(kai)機後(hou)有下角顯(xian)示(shi)“APO"，不操(cao)作(zuo)時(shi)15分鐘(zhong)後自(zi)動(dong)關(guan)機。

2．電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)檢(jian)查

開(kai)機後(hou)，如(ru)果LCD顯(xian)示(shi)電(dian)池(chi)電(dian)壓(ya)低符號“     "，表(biao)示(shi)電(dian)池(chi)電(dian)量不足(zu)，請及(ji)時(shi)更換(huan)電(dian)池(chi)。

3．接地(di)電(dian)壓(ya)測試

接地(di)電(dian)壓(ya)：即(ji)電(dian)氣(qi)設備發生(sheng)接地(di)故障(zhang)時(shi)，接地(di)設(she)備(bei)的(de)外(wai)殼、接地(di)線(xian)、接地(di)體(ti)等(deng)與(yu)零電(dian)位(wei)點之(zhi)間的(de)電(dian)位(wei)差，接地(di)電(dian)壓(ya)就是(shi)以(yi)大(da)地(di)為(wei)參(can)考(kao)點,與大(da)地(di)的(de)電(dian)位(wei)差，大(da)地(di)為(wei)零電(dian)位(wei)點。

接地(di)電(dian)壓(ya)測試時(shi)需要(yao)使用壹(yi)根輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)，註(zhu)意(yi)與商用交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)測試的(de)區別。參(can)見(jian)下圖：儀表、輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)、測(ce)試(shi)線(xian)都(dou)連接好(hao)後，開(kai)機後(hou)，將(jiang)功能(neng)選擇鍵(jian)轉到(dao)U檔(dang)，LCD顯(xian)示(shi)測(ce)試結(jie)果(guo)。

4．線阻(zu)校驗

為(wei)了提高(gao)現場測量接地(di)電(dian)阻(zu)的(de)精(jing)密(mi)性(xing)、穩定(ding)性(xing)，避(bi)免因測(ce)試線(xian)長(chang)時(shi)間使用線(xian)阻(zu)變化引(yin)起(qi)的(de)誤差；避(bi)免因測(ce)試線(xian)未(wei)插(cha)入(ru)儀表接口或(huo)接觸(chu)不良(liang)引(yin)起(qi)的(de)誤差；避(bi)免因用戶更(geng)換(huan)或(huo)加長(chang)測試線引(yin)起(qi)的(de)誤差等，特(te)設計(ji)了線阻(zu)校驗功能(neng)，對(dui)於低(di)值(zhi)電(dian)阻(zu)測量更加精(jing)確。

連接好(hao)測試(shi)線(xian)與儀表後(hou)，將所(suo)有測試(shi)線的(de)另壹端(duan)短接，如下圖，按功能鍵(jian)R按鈕鈕切(qie)換(huan)至(zhi)對(dui)應的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)測量檔(dang)位(wei)，按“    "鍵開(kai)始(shi)校(xiao)驗，校驗中LED指示(shi)燈(deng)閃(shan)爍，LCD倒計數(shu)顯(xian)示(shi)，校(xiao)驗完(wan)畢LCD顯(xian)示(shi)線(xian)阻(zu)值(zhi)並將(jiang)該值(zhi)存儲(chu)，在本(ben)次(ci)開(kai)機接地(di)電(dian)阻(zu)測量中會(hui)自(zi)動扣(kou)除(chu)校(xiao)驗的(de)線電(dian)阻(zu)值(zhi)

。

關機不保存校(xiao)驗線阻(zu)值(zhi)，下次(ci)開(kai)機，需(xu)要(yao)重新(xin)校驗。

5．四線精(jing)密(mi)測試(shi)接地(di)電(dian)阻(zu)

四線測(ce)試(shi)：四線法(fa)測(ce)試能消除(chu)被測(ce)接地(di)體(ti)、輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)、測(ce)試(shi)夾(jia)、儀表輸(shu)入接口表(biao)面(mian)之間的(de)接觸(chu)電(dian)阻(zu)(通(tong)常(chang)有汙垢或(huo)生(sheng)銹)對(dui)測量的(de)影響(xiang)，能(neng)消除(chu)線(xian)阻(zu)對測(ce)量的(de)影響(xiang)，優(you)於三(san)線(xian)測(ce)試(shi)。

參(can)見(jian)下圖：從(cong)被測(ce)物體(ti)開始(shi)，壹(yi)般(ban)間隔5m～20m，分別將S、H輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)呈(cheng)壹直(zhi)線(xian)深埋入大(da)地(di)，將(jiang)接地(di)測(ce)試(shi)線(xian)(黑(hei)、綠、黃、紅)從(cong)儀表的(de)E、ES、S、H接口開(kai)始(shi)對(dui)應連接到(dao)被測(ce)接地(di)極(ji)E、輔助(zhu)電(dian)壓(ya)極(ji)S、輔助(zhu)電(dian)流(liu)極(ji)H上。

   對(dui)於多(duo)點獨(du)立(li)接地(di)系(xi)統或大(da)地(di)網(wang)接地(di)系(xi)統，用戶自(zi)行(xing)選用更(geng)長的(de)測試線即(ji)可，電(dian)極(ji)間距大(da)於被測(ce)試(shi)地(di)網(wang)最大(da)對角(jiao)線長(chang)的(de)5倍即(ji)可。如下圖：

R=r1∥r2∥r3∥r4∥r5∥r6∥…∥rn（r1…rn都(dou)是(shi)獨(du)立(li)接地(di)點）

R——儀表讀(du)數(shu)，整個接地(di)系(xi)統的(de)總(zong)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)；

r1…rn——都(dou)是(shi)獨(du)立(li)接地(di)點，在(zai)地(di)面(mian)下各(ge)接地(di)體(ti)沒(mei)有連接在壹(yi)起(qi)；

RH——輔助(zhu)電(dian)流(liu)極(ji)H的(de)對地(di)電(dian)阻(zu)；

RS——輔助(zhu)電(dian)壓(ya)極(ji)S的(de)對地(di)電(dian)阻(zu)；

n——獨(du)立(li)接地(di)點的(de)數(shu)量，點數(shu)越多(duo)，R值(zhi)越小(xiao)。

6．三(san)線(xian)測(ce)試接地(di)電(dian)阻(zu)

三(san)線(xian)測(ce)試(shi)：如下圖，短(duan)接儀表的(de)ES、E接口，即(ji)為(wei)三(san)線(xian)測(ce)試(shi)，儀表操(cao)作與四線測(ce)試(shi)相同。三(san)線(xian)測(ce)試(shi)不能(neng)消(xiao)除(chu)線(xian)阻(zu)對測(ce)量的(de)影響(xiang)，也不能(neng)消(xiao)除(chu)儀表與(yu)測試線間、測試線與(yu)輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)間接觸(chu)電(dian)阻(zu)變化對測(ce)量的(de)影響(xiang)，測量時(shi)還需(xu)去(qu)除(chu)被測(ce)接地(di)體(ti)表(biao)面(mian)的(de)氧化層(ceng)。

7．二線簡易測試接地(di)電(dian)阻(zu)

二(er)線(xian)測試(shi)：此(ci)方法(fa)是(shi)不使用輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)的(de)簡易測量法，利(li)用現(xian)有的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)最小(xiao)的(de)接地(di)極(ji)作(zuo)為(wei)輔助(zhu)接地(di)極(ji)，使用2條(tiao)簡易測試線(xian)連接H-S接口短(duan)接、E-ES接口短(duan)接)。可以利(li)用金(jin)屬(shu)水(shui)管、消(xiao)防栓(shuan)等(deng)金(jin)屬(shu)埋設(she)物、商用電(dian)力(li)系統的(de)共(gong)同接地(di)或(huo)建(jian)築(zhu)物的(de)防雷(lei)接地(di)極(ji)等(deng)來(lai)代(dai)替輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)H、S，測量時(shi)註意(yi)去(qu)除(chu)所(suo)選金(jin)屬(shu)輔助(zhu)接地(di)體(ti)連接點的(de)氧化層(ceng)。接線如(ru)下圖，儀表操(cao)作同四線測(ce)試(shi)。

二線(xian)簡易法測量接地(di)電(dian)阻(zu)，其儀表讀(du)數(shu)為被測(ce)接地(di)體(ti)的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)與商用接地(di)體(ti)的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)之和(he)，即：

R=RX＋re

其中：R——為儀表讀(du)數(shu)值(zhi)；

RX——為被測(ce)接地(di)體(ti)的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)；

re——為商用電(dian)力(li)系統等共(gong)同接地(di)體(ti)的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)。

那(na)麽，被測(ce)接地(di)體(ti)的(de)接地(di)電(dian)阻(zu)值(zhi)為：

RX=R－re

8．土壤(rang)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)

土壤(rang)電(dian)阻(zu)率ρ是決(jue)定(ding)接地(di)體(ti)接地(di)電(dian)阻(zu)的(de)重要因數(shu)。不同(tong)性(xing)質的(de)土壤(rang)，固(gu)然(ran)有不同(tong)的(de)土壤(rang)電(dian)阻(zu)率，就是(shi)同(tong)壹(yi)種(zhong)土壤(rang)，由於溫(wen)度和(he)含水(shui)量等不同(tong)，土壤(rang)電(dian)阻(zu)率也會隨之發(fa)生(sheng)顯(xian)著(zhu)的(de)變化。因此(ci)，為了在進(jin)行接地(di)裝(zhuang)置(zhi)設計(ji)時(shi)有正(zheng)確的(de)依據(ju)，使所(suo)設(she)計(ji)的(de)接地(di)裝(zhuang)置(zhi)更能(neng)符合實際工作(zuo)的(de)需要，必(bi)須(xu)進(jin)行土壤(rang)電(dian)阻(zu)率的(de)測量。長

土壤(rang)電(dian)阻(zu)率用四極(ji)法(fa)(溫納法(fa))進(jin)行測量。

根據(ju)公(gong)式ρ=2πaR(Ωm)計算土壤(rang)電(dian)阻(zu)率ρ，單位(wei)為(wei)Ωm，其中：

a——電(dian)極(ji)間距

R——S-ES電(dian)極(ji)間土壤(rang)的(de)電(dian)阻(zu)

四極(ji)法(fa)(溫納法(fa))：按下圖連接測試(shi)線(xian)，註意(yi)輔助(zhu)接地(di)棒(bang)間的(de)間距及埋(mai)入深度，分別將H、S、ES、E輔(fu)助(zhu)接地(di)棒(bang)呈(cheng)壹直(zhi)線(xian)深埋入大(da)地(di)，將(jiang)接地(di)測(ce)試(shi)線(xian)(紅、黃、綠、黑(hei))從(cong)儀表的(de)H、S、ES、E接口開(kai)始(shi)對(dui)應連接到(dao)被測(ce)H、S、ES、E輔助(zhu)接地(di)棒(bang)上(shang)。

輔助(zhu)接地(di)棒(bang)的(de)間距設置(zhi)：連接好(hao)測試(shi)線(xian)後，開(kai)機按功能按鍵ρ，進(jin)入土壤(rang)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)模式，長(chang)按“SET"鍵(超(chao)過(guo)3秒(miao))進(jin)入輔助(zhu)接地(di)棒(bang)的(de)間距設置(zhi)，短按“   "鍵(jian)移(yi)動光(guang)標，按“    "或“    "鍵改(gai)變當(dang)前數(shu)字大(da)小(xiao)(a值(zhi)範(fan)圍:1m～100m)，再(zai)長(chang)按“SET"鍵(超(chao)過(guo)3秒(miao))保存設(she)定(ding)的(de)a值(zhi)，並返(fan)回(hui)土壤(rang)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)模式。

設(she)定(ding)完(wan)a值(zhi)後，在(zai)土壤(rang)電(dian)阻(zu)率測(ce)試(shi)模式下，按“TEST"鍵(jian)開(kai)始(shi)測(ce)試(shi)，並(bing)倒(dao)計數(shu)顯(xian)示(shi)測(ce)試進(jin)度，完成(cheng)測試後(hou)顯(xian)示(shi)穩(wen)定(ding)的(de)土壤(rang)電(dian)阻(zu)率值(zhi)。

9．背(bei)光(guang)控(kong)制

開機後(hou)，按“    "鍵(jian)可以開啟或(huo)關(guan)閉(bi)背(bei)光(guang)，背(bei)光(guang)功能適(shi)合於昏(hun)暗場所(suo)。每次(ci)開(kai)機默(mo)認(ren)背(bei)光(guang)關閉(bi)。

10．報(bao)警(jing)設(she)置(zhi)

開機後(hou)，短(duan)按“     "鍵(jian)，開啟(qi)、關閉(bi)報(bao)警(jing)功(gong)能。短按“SET"鍵可以設置(zhi)電(dian)阻(zu)報(bao)警(jing)值(zhi)，按“    "鍵移(yi)動光(guang)標，通(tong)過(guo)按“    "或“    "鍵改(gai)變當(dang)前數(shu)字大(da)小(xiao)，再(zai)按“SET"鍵保存退(tui)出(chu)。當(dang)測量值(zhi)大(da)於報(bao)警(jing)臨界設定(ding)值(zhi)並已開(kai)啟(qi)報(bao)警(jing)功(gong)能，儀表閃(shan)爍“    "符號，並(bing)發(fa)出(chu)“嘟(du)--嘟(du)--嘟(du)--"報(bao)警(jing)聲(sheng)。接地(di)電(dian)壓(ya)報(bao)警(jing)設(she)置(zhi)最大(da)值(zhi)為100V，接地(di)電(dian)阻(zu)報(bao)警(jing)設(she)置(zhi)最大(da)值(zhi)為3000Ω，土壤(rang)電(dian)阻(zu)率報(bao)警(jing)設(she)置(zhi)最大(da)值(zhi)為9999Ωm。如(ru)下圖：

11．數(shu)據鎖定(ding)/存儲(chu)

開(kai)機後(hou)測(ce)量完成(cheng)，短按“MEM"鍵鎖定(ding)當(dang)前顯(xian)示(shi)數(shu)據，並(bing)自動(dong)編(bian)號(hao)存儲(chu)，若存儲(chu)已滿(man)，儀表顯(xian)示(shi)“FULL"符號。如(ru)下圖：測(ce)量數(shu)據為(wei)1032Ω，短按“MEM"顯(xian)示(shi)存儲(chu)為第3組(zu)數(shu)據。

12．數(shu)據查閱(yue)/刪(shan)除(chu)

開機或(huo)測(ce)量完成(cheng)後，長按“MEM"鍵(超(chao)過(guo)3秒(miao))進(jin)入數(shu)據查閱(yue)，存儲(chu)數(shu)據界面和存儲(chu)數(shu)據組(zu)號(hao)對應的(de)界面交替閃(shan)爍。按“    "或“    "鍵以(yi)步(bu)進(jin)值(zhi)為1選擇查閱(yue)數(shu)組(zu)號(hao)對應數(shu)據，壹(yi)直按住“    "或“    "鍵以(yi)步(bu)進(jin)值(zhi)為5選擇查閱(yue)數(shu)組(zu)號(hao)，再按“MEM"鍵退(tui)出(chu)查閱(yue)。見(jian)下圖

查閱(yue)時(shi)下圖中數(shu)字3為(wei)當(dang)前組(zu)數(shu)，6為總(zong)組(zu)數(shu)，若無存儲(chu)數(shu)據，LCD顯(xian)示(shi)“NULL"，見(jian)下圖。

在(zai)數(shu)據查閱(yue)狀態下，按“SET"鍵進(jin)入數(shu)據刪(shan)除(chu)，按“    "或“    "鍵選擇“NO"或“YES", 選“NO"再按“SET"鍵不刪(shan)除(chu)返(fan)回(hui)數(shu)據查閱(yue)狀態，選“YES"再按“SET"鍵刪(shan)除(chu)所(suo)存數(shu)據，刪(shan)除(chu)後(hou)顯(xian)示(shi)如(ru)下圖。