水內(nei)冷(leng)絕緣電(dian)阻測試儀(yi)測試方(fang)法(fa)

水內(nei)冷(leng)絕緣電(dian)阻測試儀(yi)專用(yong)於(yu)試驗室或現(xian)場(chang)做(zuo)絕緣測試試驗。內含高精(jing)度(du)微電(dian)流測(ce)量系(xi)統、數(shu)字升(sheng)壓系(xi)統。只(zhi)需要(yao)用(yong)壹條(tiao)高壓(ya)線和壹(yi)條信(xin)號(hao)線連接試品(pin)即可(ke)測量。測(ce)量自(zi)動進行(xing)，結果(guo)由(you)大屏(ping)幕液(ye)晶(jing)顯(xian)示(shi)，並(bing)將(jiang)結果(guo)進(jin)行(xing)存(cun)儲(chu)。

主要(yao)特(te)點(dian)

1.采用32位微控制器(qi)控制，全中文(wen)操(cao)作(zuo)界(jie)面，操(cao)作(zuo)方(fang)便(bian)。

2.輸(shu)出電(dian)流大，(2500V下(xia)輸(shu)出大於(yu)25mA),短(duan)路(lu)電(dian)流≧25mA。

3.高壓(ya)發(fa)生模塊采用全封(feng)閉(bi)技(ji)術(shu)，內部(bu)有保(bao)護電(dian)阻，安全可(ke)靠。

4.抗幹(gan)擾(rao)能力強，能滿足超(chao)高壓(ya)變(bian)電(dian)站現場操(cao)作(zuo)。

5.測試完畢自動(dong)放電(dian)，並(bing)實時(shi)監控放電(dian)過(guo)程(cheng)。

6.適於(yu)測量(liang)水內(nei)冷(leng)發(fa)電(dian)機的(de)絕緣電(dian)阻、吸(xi)收比（R60S/R15S）和極化(hua)指(zhi)數(shu)（R10min/R1min）。

7.測試高壓(ya)為(wei)2500V/5000V。

8.自動(dong)對水極化(hua)電(dian)勢進(jin)行(xing)補(bu)償(chang)調(tiao)節。機(ji)座與匯(hui)水管(guan)間(jian)的(de)電(dian)阻小至10kΩ也(ye)可(ke)保(bao)證測(ce)量(liang)準確度(du)。

9.輸(shu)出功率大，線路(lu)對(dui)匯(hui)水管(guan)間(jian)的(de)負載電(dian)阻可(ke)低(di)至100kΩ(2500V)/150kΩ（5000V）絕緣電(dian)阻測量(liang)可(ke)低(di)至1MΩ(2500V)/2MΩ(5000V)。

10.絕緣電(dian)阻值(zhi)用模擬進度(du)條(tiao)指(zhi)示(shi)，能直觀無延(yan)時(shi)的(de)觀察(cha)容(rong)性試品(pin)的(de)測試過(guo)程(cheng)。對(dui)數(shu)刻度(du)，示(shi)值(zhi)跳(tiao)動小(xiao)，讀數(shu)方(fang)便(bian)。

11. 數(shu)字顯示(shi)采用3 1/2 LCD數(shu)字表。

12.LCD計(ji)時(shi)器(qi)顯(xian)示(shi)測(ce)試時(shi)間，並(bing)以(yi)0～32分(fen)鐘周(zhou)而(er)復始循環顯示(shi)其(qi)分、秒(miao)。每隔(ge)15秒(miao)蜂鳴響(xiang)壹(yi)次。

13. 可(ke)自動測(ce)量和(he)記憶R15S、R60S、R10min、吸(xi)收比和極化(hua)指(zhi)數(shu)，供(gong)測(ce)試完成時(shi)復核、讀(du)取(qu)。

具備(bei)自(zi)動(dong)對(dui)水極化(hua)電(dian)勢進(jin)行(xing)補(bu)償(chang)調(tiao)節功能。

測試方(fang)法(fa)

a．環境溫濕(shi)度(du)： 壹般(ban)材料的(de)電(dian)阻值(zhi)隨(sui)環境溫濕(shi)度(du)的(de)升(sheng)高而(er)減(jian)小(xiao)。相對而(er)言，表面電(dian)阻(率)對(dui)環境濕度(du)比較(jiao)敏(min)感，而(er)體(ti)電(dian)阻(率)則對(dui)溫度(du)較(jiao)為(wei)敏感(gan)。濕(shi)度(du)增加(jia)，表面泄漏(lou)增大，體(ti)電(dian)導電(dian)流也(ye)會增加(jia)。溫度(du)升(sheng)高，載(zai)流(liu)子(zi)的(de)運(yun)動速率加(jia)快，介(jie)質材料的(de)吸(xi)收電(dian)流和(he)電(dian)導電(dian)流會相應增加(jia)，據(ju)有關(guan)資(zi)料報(bao)道(dao)，壹(yi)般(ban)介(jie)質在70C時(shi)的(de)電(dian)阻值(zhi)僅有20C時(shi)的(de)10％。因此(ci)，測(ce)量(liang)材料的(de)電(dian)阻時(shi)，必須指(zhi)明試樣(yang)與(yu)環境達到(dao)平衡(heng)的(de)溫濕(shi)度(du)。

 b．測試電(dian)壓(電(dian)場強度(du)):  介(jie)質材料的(de)電(dian)阻(率)值(zhi)壹般(ban)不(bu)能在很(hen)寬(kuan)的(de)電(dian)壓範圍內保(bao)持不變(bian)，即歐姆定(ding)律(lv)對(dui)此(ci)並(bing)不適用(yong)。常(chang)溫條(tiao)件(jian)下(xia)，在較(jiao)低(di)的(de)電(dian)壓範圍內，電(dian)導電(dian)流隨(sui)外加(jia)電(dian)壓的(de)增加(jia)而(er)線性增加(jia)，材料的(de)電(dian)阻值(zhi)保(bao)持不變(bian)。超(chao)過(guo)壹(yi)定(ding)電(dian)壓後(hou)，由於(yu)離子(zi)化(hua)運(yun)動加(jia)劇，電(dian)導電(dian)流的(de)增加(jia)遠比測試電(dian)壓增加(jia)的(de)快，材料呈現的(de)電(dian)阻值(zhi)迅(xun)速降(jiang)低(di)。由此(ci)可(ke)見，外加(jia)測(ce)試電(dian)壓越(yue)高，材料的(de)電(dian)阻值(zhi)越低(di)，以(yi)致(zhi)在不同電(dian)壓下(xia)測(ce)試得到(dao)的(de)材料電(dian)阻值(zhi)可(ke)能有較(jiao)大的(de)差別(bie)。值(zhi)得註(zhu)意(yi)的(de)是，導致(zhi)材料電(dian)阻值(zhi)變(bian)化(hua)的(de)決定(ding)因素是測試時(shi)的(de)電(dian)場強度(du)，而(er)不是測試電(dian)壓。對(dui)相同的(de)測試電(dian)壓，若(ruo)測(ce)試電(dian)極之間的(de)距離(li)不同，對(dui)材料電(dian)阻率的(de)測試結果(guo)也(ye)將(jiang)不同，正負電(dian)極之間的(de)距離(li)越小(xiao)，測試值(zhi)也(ye)越(yue)小(xiao)。

 c．測試時(shi)間:  用壹(yi)定(ding)的(de)直流電(dian)壓對(dui)被測(ce)材料加壓時(shi)，被測材料上(shang)的(de)電(dian)流不(bu)是瞬時(shi)達到(dao)穩定(ding)值(zhi)的(de)，而(er)是有壹(yi)衰(shuai)減(jian)過(guo)程(cheng)。在加壓(ya)的(de)同時(shi)，流過(guo)較(jiao)大的(de)充電(dian)電(dian)流，接(jie)著(zhe)是比較(jiao)長(chang)時(shi)間緩(huan)慢(man)減(jian)小(xiao)的(de)吸(xi)收電(dian)流，最(zui)後達到(dao)比較(jiao)平穩的(de)電(dian)導電(dian)流。被(bei)測電(dian)阻值(zhi)越高，達到(dao)平衡(heng)的(de)時(shi)間則越(yue)長(chang)。因此(ci)，測(ce)量(liang)時(shi)為(wei)了正確讀(du)取被(bei)測(ce)電(dian)阻值(zhi)，應在穩定(ding)後(hou)讀取數(shu)值(zhi)或取加(jia)壓(ya)1分(fen)鐘(zhong)後的(de)讀數(shu)值(zhi)。另外，高絕緣材料的(de)電(dian)阻值(zhi)還與(yu)其(qi)帶電(dian)的(de)歷史(shi)有關(guan)。為(wei)準確(que)評(ping)價(jia)材料的(de)靜電(dian)性能，在對材料進行(xing)電(dian)阻(率)測(ce)試時(shi)，應首先對其(qi)進(jin)行(xing)消(xiao)電(dian)處(chu)理(li)，並(bing)靜置壹(yi)定(ding)的(de)時(shi)間，靜置時(shi)間可(ke)取5分鐘(zhong)，然後(hou)，再(zai)按(an)測量(liang)程(cheng)序測(ce)試。壹般(ban)而(er)言，對壹種材料的(de)測試，至少應隨(sui)機(ji)抽取(qu)3～5個(ge)試樣(yang)進(jin)行(xing)測(ce)試，以(yi)其(qi)平均(jun)值(zhi)作為(wei)測試結果(guo)。

d．測試設備(bei)的(de)泄漏(lou)：在測試中，線路(lu)中(zhong)絕緣電(dian)阻不高的(de)連線，往(wang)往(wang)會不適當地(di)與(yu)被測(ce)試樣(yang)、取(qu)樣(yang)電(dian)阻等(deng)並(bing)聯，對(dui)測量(liang)結果(guo)可(ke)能帶來(lai)較(jiao)大的(de)影響(xiang)。為(wei)此(ci)：為(wei)減(jian)小(xiao)測(ce)量(liang)誤差，應采用保(bao)護技(ji)術(shu)，在漏(lou)電(dian)流大的(de)線路(lu)上(shang)安(an)裝保(bao)護導體(ti)，以(yi)基(ji)本(ben)消(xiao)除雜(za)散(san)電(dian)流對(dui)測試結果(guo)的(de)影響(xiang)；高電(dian)壓線由於(yu)表面(mian)電(dian)離，對(dui)地有壹(yi)定(ding)泄(xie)漏(lou)，所(suo)以(yi)盡(jin)量采用高絕緣、大線徑的(de)高壓(ya)導(dao)線作為(wei)高壓(ya)輸(shu)出線並(bing)盡量(liang)縮短(duan)連線，杜絕電(dian)暈(yun)放電(dian)；采用聚乙(yi)烯(xi)、聚四氟乙(yi)烯(xi)等(deng)絕緣材料制作測(ce)試臺和支(zhi)撐(cheng)體(ti)，以(yi)避(bi)免由(you)於(yu)該(gai)類原因導致(zhi)測(ce)試值(zhi)偏低(di)。

e．外界(jie)幹(gan)擾(rao)：高絕緣材料加上(shang)直流電(dian)壓後(hou)，通(tong)過(guo)試樣(yang)的(de)電(dian)流是很(hen)微小(xiao)的(de)，極易(yi)受(shou)到(dao)外界(jie)幹(gan)擾(rao)的(de)影響(xiang)，造(zao)成(cheng)較(jiao)大的(de)測試誤差。熱電(dian)勢、接(jie)觸(chu)電(dian)勢壹(yi)般(ban)很(hen)小，可(ke)以(yi)忽(hu)略；電(dian)解電(dian)勢主(zhu)要是潮濕試樣(yang)與(yu)不(bu)同金(jin)屬接觸(chu)產(chan)生的(de)，大約(yue)只(zhi)有20mV，況(kuang)且(qie)在靜電(dian)測試中均要求(qiu)相對濕(shi)度(du)較(jiao)低(di)，在幹(gan)燥環境中測試時(shi)，可(ke)以(yi)消(xiao)除電(dian)解電(dian)勢。因此(ci)，外界(jie)幹(gan)擾(rao)主(zhu)要(yao)是雜(za)散(san)電(dian)流的(de)耦合或靜電(dian)感應(ying)產(chan)生的(de)電(dian)勢。在測試電(dian)流小(xiao)於10-10A或(huo)測量電(dian)阻超過(guo)1011歐姆時(shi)；被測試樣(yang)、測(ce)試電(dian)極和測(ce)試系(xi)統均應(ying)采取嚴(yan)格(ge)的(de)屏蔽(bi)措(cuo)施(shi)，消(xiao)除外界(jie)幹(gan)擾(rao)帶來(lai)的(de)影響(xiang)。