
產(chan)品(pin)別稱(cheng)
全(quan)自(zi)動(dong)互(hu)感(gan)器(qi)特性(xing)綜合測試(shi)儀(yi)、互感(gan)器(qi)綜合特(te)性(xing)測試(shi)儀(yi)、伏(fu)安特性變(bian)比(bi)極性綜合測試(shi)儀(yi)、CT伏(fu)安特性綜(zong)合測試(shi)儀(yi)、互感(gan)器(qi)多功(gong)能(neng)測試(shi)儀(yi)
產(chan)品(pin)概述(shu)
全(quan)功(gong)能(neng)互(hu)感(gan)器(qi)特性(xing)綜合測試(shi)儀(yi)用(yong)於(yu)對(dui)保(bao)護類(lei)、計量(liang)類CT/PT進行自(zi)動(dong)測試(shi),適(shi)用於(yu)實(shi)驗室也適(shi)用於(yu)現(xian)場檢(jian)測。如(ru)果(guo)不(bu)是(shi)在(zai)實(shi)驗室環境(jing)下(xia),測試(shi)儀(yi)必需要(yao)可(ke)靠(kao)接地(di)連(lian)接(jie)後(hou)才(cai)可(ke)以使用(yong)。接地(di)點的選擇(ze)應該(gai)盡(jin)量(liang)靠(kao)近測試(shi)對(dui)象(xiang),在(zai)測試(shi)時(shi),總是保(bao)持(chi)互感(gan)器(qi)高(gao)壓(ya)側的壹(yi)個端(duan)子接(jie)地。當(dang)測量(liang)互感(gan)器(qi)的變比(bi)時(shi),請確(que)保(bao)接線正確(que),否(fou)則在(zai)互(hu)感(gan)器(qi)內(nei)部(bu)可能(neng)產(chan)生(sheng)危(wei)及(ji)生(sheng)命(ming)的電壓(ya),並損壞(huai)連(lian)接(jie)的互感(gan)器(qi)者是(shi)測試(shi)儀(yi)。
全(quan)功(gong)能(neng)互(hu)感(gan)器(qi)特性(xing)綜合測試(shi)儀(yi)功(gong)能(neng)特(te)點
• 支(zhi)持(chi)檢(jian)測CT和(he)PT
• 滿足(zu) GB1207、GB1208等規程要(yao)求(qiu).
• 無需外接(jie)其它(ta)輔(fu)助(zhu)設備,單機(ji)即可(ke)完成(cheng)所有檢(jian)測項(xiang)目(mu).
• 自(zi)帶(dai)微(wei)型(xing)快(kuai)速打印機(ji)、可(ke)直接現(xian)場打印測試(shi)結(jie)果(guo).
• 操(cao)作(zuo)簡便,帶有智(zhi)能(neng)提(ti)示,使(shi)用(yong)戶(hu)更(geng)易(yi)上(shang)手操作(zuo)。.
• 大(da)屏(ping)幕(mu)液晶,圖(tu)形(xing)化顯(xian)示接(jie)口.
• 按(an)規程自(zi)動(dong)給(gei)出CT/PT(勵(li)磁(ci))拐點值(zhi).
• 自(zi)動(dong)給(gei)出5%和(he)10%誤差(cha)曲線.
• 可(ke)保(bao)存3000組測試(shi)資(zi)料,掉電後(hou)不丟失(shi).
• 支(zhi)持(chi)U盤轉(zhuan)存資料,可以通過(guo)標準(zhun)的PC進行讀(du)取(qu),並生(sheng)成(cheng)WORD報(bao)告(gao).
• 小(xiao)巧輕便(bian)≤22Kg,非常(chang)利(li)於現(xian)場測試(shi).
| CT(保(bao)護類(lei)、計量(liang)類) | PT |
| • 伏(fu)安特性(勵(li)磁(ci)特(te)性)曲線 | • 伏(fu)安特性(勵(li)磁(ci)特(te)性)曲線 |
| • 自(zi)動(dong)給(gei)出拐點值(zhi) | • 自(zi)動(dong)給(gei)出拐點值(zhi) |
| • 自(zi)動(dong)給(gei)出5%和(he)10%的誤差(cha)曲線 | • 變(bian)比(bi)測量(liang) |
| • 變(bian)比(bi)測量(liang) | • 極性判斷 |
| • 比(bi)差(cha)測量(liang) | • 比(bi)差(cha)測量(liang) |
| • 相(xiang)位(角差(cha))測量(liang) | • 相(xiang)位(角差(cha))測量(liang) |
| • 極性判斷 | • 交(jiao)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi) |
| • 壹(yi)次通流(liu)測試(shi) | • 二(er)次負荷(he)測試(shi) |
| • 交(jiao)流(liu)耐(nai)壓(ya)測試(shi) | • 二(er)次繞組(zu)測試(shi) |
| • 二(er)次負荷(he)測試(shi) | • 鐵(tie)心(xin)退磁 |
| •二(er)次繞組(zu)測試(shi) | |
| • 鐵(tie)心(xin)退磁 |
技(ji)術(shu)指標
| 項(xiang) 目(mu) | 參 數(shu) | |
| 工(gong)作(zuo)電源(yuan) | AC220V±10% 、50Hz | |
| 設(she)備輸出 | 0~2500Vrms, 5Arms(20A峰(feng)值) 註(zhu):0~5A為真實值,大(da)於(yu)5A~20A為計算值 | |
| 大(da)電流(liu)輸出 | 0~1000A | |
| 勵(li)磁(ci)精度(du) | ≤0.5%(0.2%*讀(du)數(shu)+0.3%*量(liang)程) | |
| 二(er)次繞組(zu) 電阻(zu)測量(liang) | 範(fan)圍 | 0.1~300Ω |
| 精度(du) | ≤0.5%(0.2%*讀(du)數(shu)+0.3%*量(liang)程) | |
| 二(er)次實際(ji) 負(fu)荷(he)測量(liang) | 範(fan)圍 | 5~500VA |
| 精度(du) | ≤0.5%(0.2%*讀(du)數(shu)+0.3%*量(liang)程)±0.1VA | |
| 相(xiang)位測量(liang) (角(jiao)差(cha)) | 精度(du) | 4min |
| 分(fen)辨(bian)率 | 0.1min | |
| 比(bi)差(cha) | 精度(du) | 0.05% |
| CT 變(bian)比(bi)測量(liang) | 範(fan)圍 | ≤25000A/5A(5000A/1A) |
| 精度(du) | ≤0.5% | |
| PT 變(bian)比(bi)測量(liang) | 範(fan)圍 | ≤500KV |
| 精度(du) | ≤0.5% | |
| 工(gong)作(zuo)環境(jing) | 溫(wen)度(du):-10℃ ~ 40℃,濕(shi)度(du):≤90%,海(hai)拔高(gao)度(du):≤1000m | |
| 尺(chi)寸(cun)、重量(liang) | 尺(chi)寸(cun):410mm × 260mm × 340mm , 重(zhong)量(liang):≤22Kg | |
上(shang)壹(yi)產(chan)品(pin):工頻(pin)耐(nai)壓(ya)試(shi)驗變壓(ya)器(qi)(陸(lu)峰(feng))
下(xia)壹(yi)產(chan)品(pin):全(quan)功(gong)能(neng)互(hu)感(gan)器(qi)特性(xing)綜合測試(shi)儀(yi)(陸(lu)峰(feng))
電話
微(wei)信掃(sao)壹(yi)掃(sao)