
互感(gan)器伏安特(te)性綜(zong)合測試(shi)儀產(chan)品概述(shu)
變(bian)頻互感(gan)器測試儀是在(zai)本公司開(kai)發(fa)的(de)、廣受贊(zan)譽並大(da)量(liang)應(ying)用(yong)的(de)LF系列多功能互感(gan)器綜合測試(shi)儀基礎上,廣泛聽取(qu)用(yong)戶意(yi)見(jian)、經過(guo)大(da)量(liang)的(de)市場(chang)調研(yan)、深(shen)入(ru)進行(xing)理(li)論(lun)研(yan)究(jiu)之後(hou)研(yan)發(fa)的(de)新(xin)壹代(dai)革(ge)新(xin)型CT、PT測(ce)試儀器。裝置采(cai)用(yong)高性(xing)能DSP和(he)ARM、*的(de)制造(zao)工藝,保(bao)證(zheng)了(le)產(chan)品性(xing)能穩定可靠(kao)、功能完備、自(zi)動(dong)化程度高、測試效率(lv)高、在(zai)國內處(chu)於水平(ping),是電(dian)力(li)行業用(yong)於互感(gan)器的(de)專業測(ce)試儀器。
互感(gan)器伏安特(te)性綜(zong)合測試(shi)儀功能特(te)點
1、功能全(quan)面(mian),既滿足各(ge)類(lei)CT(如:保護類(lei)、計量(liang)類(lei)、TP類(lei))的(de)勵磁(ci)特(te)性(即伏安(an)特(te)性)、變(bian)比(bi)、極性、二(er)次(ci)繞組電(dian)阻(zu)、二(er)次(ci)負荷、比(bi)差以及(ji)角差(cha)等(deng)測(ce)試要求,又可用(yong)於各(ge)類(lei)PT電(dian)磁(ci)單元(yuan)的(de)勵磁(ci)特(te)性、變(bian)比(bi)、極性、二(er)次(ci)繞組電(dian)阻(zu)等(deng)測(ce)試(shi)。
2、自(zi)動(dong)給出(chu)拐點電(dian)壓(ya)/電(dian)流(liu)、10%(5%)誤(wu)差曲(qu)線(xian)、準(zhun)確(que)限(xian)值(zhi)系數(shu)(ALF)、儀表(biao)保(bao)安系數(shu)(FS)、二(er)次(ci)時間常(chang)數(shu)(Ts)、剩(sheng)磁(ci)系數(shu)(Kr)、飽(bao)和(he)及(ji)不飽(bao)和(he)電(dian)感(gan)等(deng)CT、PT參數(shu)。
3、測(ce)試(shi)滿足GB1208(IEC60044-1)、GB16847(IEC60044-6) 、GB1207等各(ge)類(lei)互感(gan)器標(biao)準(zhun),並依照互感(gan)器類(lei)型和(he)級別(bie)自(zi)動(dong)選擇何(he)種標(biao)準(zhun)進行(xing)測(ce)試。
4、基於*的(de)低頻法測(ce)試原理(li),能(neng)應對拐點高達(da)60KV的(de)CT測試。
5、界(jie)面(mian)友好(hao)美(mei)觀,全(quan)中文圖形(xing)界面(mian)。
6、裝(zhuang)置(zhi)可存儲(chu)2000組(zu)測(ce)試(shi)數(shu)據,掉(diao)電(dian)不丟(diu)失。試驗(yan)完畢(bi)後用(yong)U盤(pan)存入(ru)PC機(ji),用(yong)軟(ruan)件(jian)進行(xing)數(shu)據分析(xi),並生成(cheng)WORD報告。
7、測(ce)試(shi)簡(jian)單方(fang)便,壹鍵(jian)完(wan)成(cheng)CT直(zhi)阻(zu)、勵磁(ci)、變比(bi)和(he)極性測試,而(er)且除了負荷測試(shi)外,CT其(qi)他(ta)各(ge)項測試(shi)都(dou)是采(cai)用(yong)同(tong)壹種接線(xian)方(fang)式(shi)。
8、易於(yu)攜帶(dai),裝(zhuang)置重量(liang)<10Kg。
技(ji)術指(zhi)標(biao):
測(ce)試(shi)用(yong)途 | 保(bao)護(hu)類(lei)CT、計量(liang)類(lei)CT、保護(hu)類(lei)PT | |
輸(shu)出(chu) | 0~180Vrms,12Arms,36A(峰(feng)值(zhi)) | |
電(dian)壓(ya)測(ce)量精(jing)度(du) | ±0.2% | |
CT變(bian)比(bi) 測(ce)量(liang) | 範(fan)圍(wei) | 1~40000 |
精(jing)度(du) | ±0.1% | |
PT變(bian)比(bi) 測(ce)量(liang) | 範(fan)圍(wei) | 1~40000 |
精(jing)度(du) | ±0.1% | |
相(xiang)位測(ce)量 | 精(jing)度(du) | ±5min |
分辨率 | 0.5min | |
二(er)次(ci)繞組電(dian)阻(zu)測(ce)量(liang) | 範(fan)圍(wei) | 0~300Ω |
精(jing)度(du) | 0.5%±1mΩ | |
交流(liu)負(fu)載(zai)測(ce)量 | 範(fan)圍(wei) | 0~1000VA |
精(jing)度(du) | 0.5%±0.05VA | |
輸(shu)入(ru)電(dian)源(yuan)電(dian)壓(ya) | AC220V±10%,50Hz | |
工作環境 | 溫度:-10οC~50οC, 濕(shi)度:≤90% | |
尺寸、重量(liang) | 尺寸:340mm×296mm×174mm,重量(liang)<10kg | |
上壹產(chan)品:LF7000A智能互感(gan)器綜合測試(shi)儀
下壹產(chan)品:LF6900B變(bian)頻介質(zhi)損耗測試(shi)儀
電(dian)話(hua)
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