
產品(pin)別稱
全自(zi)動互(hu)感器特(te)性(xing)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀、互(hu)感器綜合特(te)性(xing)測(ce)試(shi)儀、伏安(an)特(te)性(xing)變(bian)比(bi)極(ji)性(xing)綜合(he)測(ce)試(shi)儀、CT伏安(an)特(te)性(xing)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀、互(hu)感器多(duo)功(gong)能(neng)測試(shi)儀
產品(pin)概(gai)述
全功(gong)能(neng)互(hu)感器特(te)性(xing)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀用於(yu)對保(bao)護(hu)類(lei)、計(ji)量(liang)類(lei)CT/PT進行自(zi)動測(ce)試(shi),適用於(yu)實(shi)驗(yan)室(shi)也適用於(yu)現(xian)場(chang)檢(jian)測(ce)。如果(guo)不(bu)是在(zai)實(shi)驗室(shi)環(huan)境下(xia),測(ce)試(shi)儀必需要(yao)可(ke)靠(kao)接(jie)地連接(jie)後才(cai)可以(yi)使(shi)用。接(jie)地點的(de)選(xuan)擇(ze)應該(gai)盡量(liang)靠(kao)近(jin)測(ce)試(shi)對象(xiang),在測(ce)試(shi)時,總(zong)是保(bao)持互(hu)感器高(gao)壓(ya)側的(de)壹個端(duan)子(zi)接(jie)地。當測量(liang)互(hu)感器的(de)變(bian)比(bi)時(shi),請確保(bao)接(jie)線(xian)正(zheng)確,否則(ze)在互(hu)感器內(nei)部可(ke)能(neng)產生(sheng)危(wei)及(ji)生(sheng)命(ming)的(de)電壓(ya),並(bing)損(sun)壞(huai)連(lian)接(jie)的(de)互(hu)感器者(zhe)是測(ce)試(shi)儀。
全功(gong)能(neng)互(hu)感器特(te)性(xing)綜(zong)合測(ce)試(shi)儀功(gong)能(neng)特(te)點
• 支(zhi)持檢(jian)測(ce)CT和PT
• 滿(man)足 GB1207、GB1208等(deng)規程要(yao)求(qiu).
• 無(wu)需外(wai)接(jie)其(qi)它(ta)輔(fu)助(zhu)設備(bei),單機(ji)即可(ke)完(wan)成(cheng)所(suo)有檢(jian)測(ce)項(xiang)目.
• 自帶微(wei)型快(kuai)速打印(yin)機(ji)、可直接(jie)現(xian)場(chang)打(da)印測試(shi)結(jie)果(guo).
• 操作簡(jian)便(bian),帶有智(zhi)能(neng)提示(shi),使(shi)用戶更易上手操作。.
• 大屏(ping)幕液(ye)晶(jing),圖(tu)形(xing)化(hua)顯示(shi)接(jie)口.
• 按規程自(zi)動(dong)給出(chu)CT/PT(勵磁)拐點值.
• 自動(dong)給出(chu)5%和10%誤(wu)差曲(qu)線(xian).
• 可保(bao)存(cun)3000組(zu)測試(shi)資(zi)料,掉(diao)電後不丟失(shi).
• 支(zhi)持U盤(pan)轉(zhuan)存(cun)資(zi)料,可(ke)以(yi)通(tong)過標準(zhun)的(de)PC進(jin)行讀取(qu),並(bing)生(sheng)成(cheng)WORD報告(gao).
• 小巧(qiao)輕便(bian)≤22Kg,非常利(li)於(yu)現(xian)場(chang)測(ce)試(shi).
| CT(保(bao)護(hu)類(lei)、計(ji)量(liang)類(lei)) | PT |
| • 伏安(an)特(te)性(xing)(勵(li)磁特(te)性(xing))曲(qu)線(xian) | • 伏安(an)特(te)性(xing)(勵(li)磁特(te)性(xing))曲(qu)線(xian) |
| • 自動(dong)給出(chu)拐點值 | • 自動(dong)給出(chu)拐點值 |
| • 自動(dong)給出(chu)5%和10%的(de)誤(wu)差曲(qu)線(xian) | • 變(bian)比(bi)測(ce)量(liang) |
| • 變(bian)比(bi)測(ce)量(liang) | • 極性(xing)判斷 |
| • 比(bi)差(cha)測(ce)量 | • 比(bi)差(cha)測(ce)量 |
| • 相位(wei)(角(jiao)差)測(ce)量 | • 相位(wei)(角(jiao)差)測(ce)量 |
| • 極性(xing)判斷 | • 交流耐壓(ya)測(ce)試(shi) |
| • 壹次通(tong)流測試(shi) | • 二次負(fu)荷測(ce)試(shi) |
| • 交流耐壓(ya)測(ce)試(shi) | • 二次繞組測試(shi) |
| • 二次負(fu)荷測(ce)試(shi) | • 鐵心(xin)退(tui)磁 |
| •二次繞組測試(shi) | |
| • 鐵心(xin)退(tui)磁 |
技術指標
| 項(xiang) 目 | 參 數(shu) | |
| 工作(zuo)電源(yuan) | AC220V±10% 、50Hz | |
| 設備(bei)輸(shu)出(chu) | 0~2500Vrms, 5Arms(20A峰值(zhi)) 註:0~5A為(wei)真實值,大於(yu)5A~20A為(wei)計(ji)算(suan)值 | |
| 大電流輸(shu)出(chu) | 0~1000A | |
| 勵磁精(jing)度(du) | ≤0.5%(0.2%*讀數(shu)+0.3%*量程(cheng)) | |
| 二次繞組 電阻(zu)測量 | 範圍(wei) | 0.1~300Ω |
| 精(jing)度(du) | ≤0.5%(0.2%*讀數(shu)+0.3%*量程(cheng)) | |
| 二次實(shi)際(ji) 負荷測(ce)量(liang) | 範圍(wei) | 5~500VA |
| 精(jing)度(du) | ≤0.5%(0.2%*讀數(shu)+0.3%*量程(cheng))±0.1VA | |
| 相位(wei)測量 (角(jiao)差) | 精(jing)度(du) | 4min |
| 分辨(bian)率 | 0.1min | |
| 比(bi)差(cha) | 精(jing)度(du) | 0.05% |
| CT 變(bian)比(bi)測(ce)量(liang) | 範圍(wei) | ≤25000A/5A(5000A/1A) |
| 精(jing)度(du) | ≤0.5% | |
| PT 變(bian)比(bi)測(ce)量(liang) | 範圍(wei) | ≤500KV |
| 精(jing)度(du) | ≤0.5% | |
| 工作(zuo)環(huan)境 | 溫(wen)度(du):-10℃ ~ 40℃,濕(shi)度(du):≤90%,海(hai)拔高(gao)度:≤1000m | |
| 尺寸(cun)、重(zhong)量(liang) | 尺寸(cun):410mm × 260mm × 340mm , 重(zhong)量(liang):≤22Kg | |
上(shang)壹產品(pin):100A回(hui)路(lu)電阻(zu)測試(shi)儀
下壹產品(pin):變(bian)頻串(chuan)聯諧振(zhen)試(shi)驗成(cheng)套(tao)裝(zhuang)置(zhi)
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