
產(chan)品(pin)別(bie)稱
局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)檢測(ce)儀、局部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)儀、局放儀(yi)、局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)系(xi)統(tong)
雙通(tong)道(dao)智能局部(bu)放(fang)電(dian)檢測(ce)儀產品(pin)概(gai)述(shu)
在(zai)電(dian)場(chang)作用(yong)下(xia),絕緣系(xi)統(tong)中(zhong)只有(you)部(bu)分區域發生放電(dian),但(dan)尚未擊(ji)穿,(即在施加電壓的導體之(zhi)間(jian)沒(mei)有(you)擊穿)。這種(zhong)現(xian)象(xiang)稱之(zhi)為(wei)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)。局部(bu)放(fang)電(dian)可能發生在導(dao)體(ti)邊上(shang),也可(ke)能(neng)發生在絕緣體(ti)的表面上(shang)和(he)內部(bu),發生在表(biao)面的稱為(wei)表(biao)面局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)。發生在內部(bu)的稱為(wei)內部(bu)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)。而(er)對(dui)於(yu)被(bei)氣(qi)體包(bao)圍的導體附(fu)近發生的局部(bu)放(fang)電(dian),稱之(zhi)為(wei)電(dian)暈(yun)。局(ju)放儀運用的原(yuan)理(li)是(shi)脈(mai)沖(chong)電流(liu)法原(yuan)理(li),即產生壹(yi)次局部(bu)放(fang)電(dian)時,試(shi)品Cx兩(liang)端(duan)產生壹(yi)個瞬(shun)時電(dian)壓變(bian)化(hua)Δu,此(ci)時若(ruo)經(jing)過電(dian)Ck耦合(he)到(dao)壹(yi)檢測(ce)阻抗Zd上(shang),回(hui)路就會(hui)產生壹(yi)脈沖(chong)電流(liu)I,將脈(mai)沖電流(liu)經檢(jian)測(ce)阻抗產(chan)生的脈沖電(dian)壓信(xin)息(xi),予以(yi)檢(jian)測(ce)、放大和(he)顯(xian)示(shi)等處(chu)理(li),就可(ke)以(yi)測(ce)定局部(bu)放(fang)電(dian)的壹(yi)些基(ji)本參(can)量(主(zhu)要是(shi)放(fang)電(dian)量q)。在這裏(li)需要(yao)指出的是(shi),試(shi)品內部(bu)實(shi)際(ji)的局部(bu)放(fang)電(dian)量是(shi)無法(fa)測(ce)量的,因為試(shi)品內部(bu)的局部(bu)放(fang)電(dian)脈沖的傳輸路徑和(he)方向(xiang)是(shi)極(ji)其復雜(za)的,因此我(wo)們只(zhi)有(you)通過對(dui)比(bi)法來檢測(ce)試(shi)品的視在放(fang)電電(dian)荷(he),即在測(ce)試(shi)之(zhi)前(qian)先(xian)在試(shi)品兩(liang)端(duan)註(zhu)入壹(yi)定的電量,調節放大(da)倍數來(lai)建(jian)立(li)標(biao)尺(chi),然後(hou)將在實(shi)際(ji)電壓下收(shou)到(dao)的試(shi)品內部(bu)的局部(bu)放(fang)電(dian)脈沖和(he)標(biao)尺(chi)進(jin)行(xing)對(dui)比(bi),以(yi)此(ci)來(lai)得(de)到(dao)試(shi)品的視在放(fang)電電(dian)荷(he)。
雙通(tong)道(dao)智能局部(bu)放(fang)電(dian)檢測(ce)儀功能(neng)特(te)點(dian)
l 彩色(se)顯(xian)示(shi)器,雙色(se)顯(xian)示(shi)波形,更清晰(xi)直觀;
l 可鎖定波形,更方便(bian)仔(zai)細(xi)查(zha)看(kan)放電波形細(xi)節;
l 自(zi)動(dong)測(ce)量並顯(xian)示(shi)試(shi)驗電(dian)源(yuan)時基(ji)頻率(lv),無需(xu)手(shou)動切換(huan);
l 配(pei)備VGA接(jie)口(kou),可外接大(da)尺(chi)寸(cun)顯(xian)示(shi)器;
l 與(yu)示(shi)波管(guan)相(xiang)比(bi)壽(shou)命更長(chang);
l 具(ju)有(you)波形鎖定、打印(yin)試(shi)驗報(bao)告(gao)功能(neng)。
技(ji)術指標(biao)
1.可(ke)測(ce)試(shi)品的電容(rong)範(fan)圍:6PF—250uF
2.檢(jian)測(ce)靈(ling)敏度(du)(見(jian)表格(ge))
輸(shu)入(ru)單(dan) 元序(xu)號 | 調 諧 電(dian) 容(rong) | 單(dan) 位(wei) | 靈(ling)敏度(du)(微(wei)微庫) (不對(dui)稱電(dian)路) |
1 | 6-25-100 | 微微(wei)法 | 0.02 |
2 | 25-100-400 | 微(wei)微(wei)法(fa) | 0.04 |
3 | 100-400-1500 | 微(wei)微法(fa) | 0.06 |
4 | 400-1500-6000 | 微微法 | 0.1 |
5 | 1500-6000-25000 | 微(wei)微(wei)法(fa) | 0.2 |
6 | 0.006-0.025-0.1 | 微(wei) 法(fa) | 0.3 |
7 | 0.025-0.1-0.4 | 微(wei) 法 | 0.5 |
8 | 0.1-0.4-1.5 | 微(wei) 法(fa) | 1.0 |
9 | 0.4-1.5-6.0 | 微 法(fa) | 1.5 |
10 | 1.5-6.0-25 | 微(wei) 法 | 2.5 |
11 | 6.0-25-60 | 微(wei) 法(fa) | 5.0 |
12 | 25-60-250 | 微 法(fa) | 10 |
7R | 電 阻 | 0.5 |
3、放大(da)器頻帶(dai)
(1)低(di)端(duan):10KHZ、20KHZ、40KHZ任選
(2)高:80KHZ、200KHZ、300KHZ任選
4、放大(da)器增(zeng)益(yi)調節
粗(cu)調六檔(dang),檔(dang)間(jian)增(zeng)益(yi)20±1dB;細(xi)調範(fan)圍≥20dB。每(mei)檔(dang)之(zhi)間(jian)數據為10倍(bei)關(guan)系(xi):如第(di)三檔(dang)檢(jian)測(ce)數據為98,則(ze)第(di)二(er)檔(dang)顯(xian)示(shi)數據為9.8,如(ru)在(zai)第(di)三檔(dang)檢(jian)測(ce)數據超(chao)過120,則(ze)應調至(zhi)第(di)二(er)檔(dang)來(lai)檢(jian)測(ce)數據,所得(de)數據應乘(cheng)以(yi)10才為(wei)實際(ji)測(ce)量值。
5、時間(jian)窗(chuang)
(1)窗(chuang)寬:可(ke)調範(fan)圍15°-175°
(2)窗(chuang)位置:每壹(yi)窗(chuang)可旋(xuan)轉(zhuan)0°- 180°
(3)兩(liang)個(ge)時間(jian)窗(chuang)可分別(bie)開(kai)或(huo)同時開(kai)
6、放(fang)電量表
0-10*<±3%(以(yi)滿度(du)計(ji))
7、橢(tuo)圓(yuan)時基(ji)
(1)頻率(lv):50HZ、或(huo)外部(bu)電(dian)源(yuan)同步(任意頻率(lv))
(2)橢(tuo)圓(yuan)旋轉(zhuan):以(yi)30°為(wei)壹(yi)檔(dang),可(ke)作(zuo)360°旋(xuan)轉(zhuan)
(3)顯(xian)示(shi)方式(shi):橢(tuo)圓(yuan)—直線(xian)
8、試(shi)驗電(dian)壓表
精度(du):優(you)於±3%(以(yi)滿度(du)計(ji))
9、體(ti)積: 320×480×190(寬×深×高(gao))mm
10、重(zhong)量(liang):約15Kg
上(shang)壹(yi)產品(pin):變(bian)壓器智能回路電阻(zu)測(ce)試(shi)儀
下壹(yi)產品(pin):LFTCW無局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)工(gong)頻耐壓試(shi)驗變(bian)壓器
電(dian)話(hua)
微(wei)信(xin)掃(sao)壹(yi)掃