
產品別稱:
智(zhi)能(neng)化(hua)介(jie)質(zhi)損耗測試儀(yi)、變(bian)頻(pin)介(jie)質損耗測試儀(yi)、介(jie)損(sun)測試儀(yi)、抗(kang)幹擾介損則試儀(yi)、全(quan)自(zi)動介(jie)損(sun)測試儀(yi)、異(yi)頻(pin)介(jie)損測試儀(yi)、異(yi)頻(pin)介(jie)質損耗測試儀(yi)、抗(kang)幹擾介質損耗測試儀(yi)、全(quan)自(zi)動介(jie)質(zhi)損耗則試(shi)儀(yi)
高壓(ya)異頻(pin)介質損耗測試儀(yi)產品概(gai)述(shu):
介(jie)損(sun)測量(liang)是絕緣(yuan)試驗中(zhong)很(hen)基(ji)本(ben)的(de)方法(fa),可以有效(xiao)地發現(xian)電器(qi)設備(bei)絕(jue)緣(yuan)的(de)整體(ti)受潮(chao)劣化變(bian)質,以及局(ju)部缺(que)陷等。在電工(gong)制(zhi)造(zao)、電氣(qi)設備(bei)安裝、交接(jie)和(he)預防性(xing)試驗中(zhong)都(dou)廣泛應用(yong)。變壓(ya)器、互(hu)感器、電抗(kang)器、電容(rong)器以及套(tao)管、避雷器等介(jie)損(sun)的(de)測量(liang)是衡(heng)量(liang)其(qi)絕(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)基本方法(fa)。介(jie)損(sun)測試儀(yi)突(tu)破(po)了(le)傳(chuan)統的(de)電橋(qiao)測量(liang)方式,采(cai)用(yong)變頻(pin)電源(yuan)技術,利用(yong)單片機、和(he)現(xian)代化電子技術進行自(zi)動頻(pin)率變換、模/數轉換和(he)數據運算;達(da)到(dao)抗(kang)幹擾能力(li)強(qiang)、測試速度快(kuai)、精(jing)度高、全(quan)自(zi)動數字化、操作(zuo)簡(jian)便(bian);電源(yuan)采用(yong)大功(gong)率開關電源(yuan),輸出(chu)45Hz和(he)55Hz純正弦波(bo),自(zi)動加(jia)壓(ya),可提(ti)供高10千伏(fu)的(de)電壓(ya);自(zi)動濾(lv)除(chu)50Hz幹擾,適用(yong)於變(bian)電站等電磁(ci)幹擾大的(de)現(xian)場測試。廣泛適用(yong)於電力(li)行業(ye)中(zhong)變(bian)壓(ya)器、互(hu)感器、套(tao)管、電容(rong)器、避雷器等設(she)備(bei)的(de)介損測量(liang)。
高壓(ya)異頻(pin)介質損耗測試儀(yi)功(gong)能(neng)特(te)點:
1、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)復數電流(liu)法(fa),測量(liang)電容(rong)、介質損耗及其(qi)它(ta)參數。測試結(jie)果精(jing)度高,便(bian)於實現(xian)自(zi)動化(hua)測量(liang)。
2、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)了變(bian)頻技(ji)術來消(xiao)除(chu)現(xian)場50Hz工(gong)頻幹擾,即使在強電磁(ci)幹擾的(de)環境(jing)下也(ye)能測得(de)可靠的(de)數據。
3、儀(yi)器(qi)采(cai)用(yong)大屏(ping)幕液(ye)晶顯(xian)示(shi)器,測試過(guo)程(cheng)通(tong)過(guo)漢字菜單提示既(ji)直(zhi)觀又(you)便(bian)於操作(zuo)。
4、儀(yi)器(qi)操(cao)作(zuo)簡(jian)便(bian),測量(liang)過(guo)程(cheng)由微(wei)處理器(qi)控制(zhi),只要選擇(ze)好(hao)合(he)適的(de)測量(liang)方式,數據的(de)測量(liang)就可在微(wei)處理器(qi)控制(zhi)下自(zi)動完(wan)成(cheng)。
5、壹(yi)體化機型,內(nei)附標(biao)準電容(rong)和(he)高壓(ya)電源(yuan),便(bian)於現(xian)場測試,減(jian)少(shao)現(xian)場接(jie)線。
6、儀(yi)器(qi)測量(liang)準確(que)度高,可滿(man)足油(you)介損(sun)測量(liang)要求,因(yin)此只(zhi)需配(pei)備(bei)標(biao)準油杯(bei),和(he)專(zhuan)用(yong)測試線即可實現(xian)油介損測量(liang)。
7、設CVT測試功(gong)能,可實現(xian)CVT的(de)自(zi)激(ji)法(fa)測試,無(wu)需外(wai)置附(fu)件,只需壹(yi)次測量(liang),C1,C2的(de)電容(rong)和(he)介損(sun)全(quan)部測出(chu)。
8、反(fan)接(jie)線測試采(cai)用(yong)ivddv技術,消(xiao)除(chu)了(le)以往反(fan)接(jie)線數據不穩(wen)定的(de)現(xian)象。
9、具(ju)有反(fan)接(jie)線低壓(ya)屏蔽(bi)功(gong)能(neng),在220kV CVT 母線接(jie)地(di)情(qing)況下,對C11 可進行不(bu)拆線10kV 反接(jie)線介損測量(liang)
10、具(ju)有測量(liang)高電壓(ya)介損(sun)功能,能夠(gou)使用(yong)高壓(ya)變壓(ya)器或(huo)串(chuan)聯諧(xie)振進行超過(guo)10kV電壓(ya)的(de)介損試(shi)驗。
12、接(jie)地(di)保護(hu)功能(neng),當儀(yi)器(qi)不(bu)接(jie)地(di)線或(huo)接(jie)地(di)不良(liang)時(shi),儀(yi)器(qi)不(bu)進入正常程(cheng)序,不輸出(chu)高壓(ya)。過(guo)流(liu)保護(hu)功能(neng),在試品短路或(huo)擊穿(chuan)時(shi)儀(yi)器(qi)不(bu)受損(sun)壞。
13、觸(chu)電保護(hu)功能(neng),當儀(yi)器(qi)操(cao)作(zuo)人(ren)員(yuan)不(bu)小心觸(chu)電時(shi)候,儀(yi)器(qi)會(hui)立即切(qie)斷(duan)高壓(ya),保障(zhang)試驗人(ren)員(yuan)的(de)安全(quan)。
技術指標(biao):
1、準確(que)度: Cx: ±(讀(du)數×1%+1pF)
tgδ: ±(讀(du)數×1%+0.00040)
2、抗(kang)幹擾指標(biao):變(bian)頻(pin)抗幹擾,在200%幹擾下仍(reng)能達(da)到(dao)上述(shu)準確(que)度
3、電容(rong)量(liang)範圍: 內(nei)施高壓(ya): 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外(wai)施高壓(ya): 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分(fen)辨率: 高0.001pF,4位(wei)有效(xiao)數字
4、tgδ範圍:不限,分(fen)辨率0.001%,電容(rong)、電感、電阻(zu)三(san)種試品自(zi)動識別。
5、試(shi)驗電流(liu)範圍:10μA~1A
6、內(nei)施高壓(ya):設定電壓(ya)範圍:0.5~10kV
大輸出(chu)電流(liu):200mA
升(sheng)降壓(ya)方式:連(lian)續(xu)平(ping)滑調(tiao)節
試(shi)驗頻率:45、50、55、60、65Hz單頻
45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自(zi)動雙變頻(pin)
7、頻率精(jing)度:±0.01Hz
8、外(wai)施高壓(ya):正接(jie)線時大試(shi)驗電流(liu)1A,工(gong)頻或(huo)變頻(pin)40-70Hz
反(fan)接(jie)線時大試(shi)驗電流(liu)10kV/1A,工(gong)頻或(huo)變頻(pin)40-70Hz
9、CVT自(zi)激(ji)法(fa)低(di)壓(ya)輸出(chu):輸出(chu)電壓(ya)3~50V,輸出(chu)電流(liu)3~30A
10、測量(liang)時間: 約40s,與測量(liang)方式有關(guan)
11、輸入電源(yuan): 180V~270VAC,50Hz±1%,市電或(huo)發電機供電
12、計(ji)算機接(jie)口(kou):標(biao)準RS232接(jie)口(kou)
13、打(da)印機: 煒(wei)煌(huang)A7熱(re)敏微(wei)型(xing)打(da)印機
14、環(huan)境(jing)溫度: -10℃~50℃
15、相(xiang)對(dui)濕度: <90%
16、外(wai)形尺(chi)寸(cun):460×360×350mm
17、儀(yi)器(qi)重量(liang):28kg
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