
產品別稱
智能(neng)化(hua)介質(zhi)損耗測試(shi)儀、變(bian)頻介質(zhi)損耗測試(shi)儀、介損測試(shi)儀、抗幹擾(rao)介損則(ze)試(shi)儀、全(quan)自動(dong)介損測試(shi)儀、異(yi)頻(pin)介損測試(shi)儀、異(yi)頻(pin)介質(zhi)損耗測試(shi)儀、抗幹擾(rao)介質(zhi)損耗測試(shi)儀、全(quan)自動(dong)介質(zhi)損耗則(ze)試(shi)儀
9000F全(quan)自動(dong)抗幹擾(rao)介質(zhi)損耗測試(shi)儀產品概(gai)述
介損測量是絕(jue)緣(yuan)試(shi)驗中(zhong)很(hen)基(ji)本(ben)的(de)方法,可(ke)以有效(xiao)地發現電(dian)器設備(bei)絕緣(yuan)的(de)整(zheng)體受(shou)潮劣化(hua)變(bian)質(zhi),以及局(ju)部(bu)缺(que)陷等。在(zai)電(dian)工(gong)制造、電(dian)氣設備(bei)安裝、交(jiao)接(jie)和預(yu)防(fang)性(xing)試(shi)驗中(zhong)都(dou)廣泛應用。變(bian)壓器(qi)、互(hu)感器、電(dian)抗器、電(dian)容器以及套(tao)管、避(bi)雷(lei)器(qi)等(deng)介損的(de)測量是衡(heng)量其絕(jue)緣(yuan)性(xing)能(neng)的(de)基(ji)本(ben)方法。LF6900B介質(zhi)損耗測試(shi)儀突(tu)破了(le)傳統(tong)的(de)電(dian)橋測量方式,采(cai)用變(bian)頻電(dian)源技(ji)術(shu),利用單片(pian)機(ji)、和現代化(hua)電(dian)子技(ji)術(shu)進(jin)行自動(dong)頻(pin)率(lv)變(bian)換、模(mo)/數轉(zhuan)換和數據運算;達(da)到(dao)抗幹擾(rao)能力強(qiang)、測試(shi)速度快、精(jing)度高(gao)、全(quan)自動(dong)數字(zi)化(hua)、操作簡(jian)便(bian);電(dian)源采用大(da)功(gong)率(lv)開關電(dian)源,輸出(chu)45Hz和55Hz純(chun)正弦波(bo),自動(dong)加壓,可(ke)提供(gong)高(gao)10千伏(fu)的(de)電(dian)壓;自動(dong)濾除50Hz幹擾(rao),適用於(yu)變(bian)電(dian)站等(deng)電(dian)磁幹擾(rao)大(da)的(de)現(xian)場測試(shi)。廣泛適用於(yu)電(dian)力行業中(zhong)變(bian)壓器(qi)、互(hu)感器、套(tao)管、電(dian)容器、避(bi)雷(lei)器(qi)等(deng)設(she)備的(de)介損測量。
9000F全(quan)自動(dong)抗幹擾(rao)介質(zhi)損耗測試(shi)儀功(gong)能(neng)特點(dian)
1、儀器(qi)采(cai)用傅立(li)葉變(bian)換數字(zi)濾波技(ji)術(shu),測量電(dian)容、介質(zhi)損耗及其它(ta)參數。測試(shi)結果(guo)精度高(gao),便(bian)於(yu)實現(xian)自(zi)動(dong)化(hua)測量。
2、儀器(qi)采(cai)用了(le)變(bian)頻技(ji)術(shu)來消(xiao)除現場50Hz工(gong)頻幹(gan)擾(rao),即使在強(qiang)電(dian)磁幹擾(rao)的(de)環(huan)境(jing)下(xia)也(ye)能測得(de)可(ke)靠的(de)數據。
3、使(shi)用全(quan)觸摸(mo)超大(da)液(ye)晶(jing)顯示器(qi),操作簡(jian)單(dan)。全(quan)觸摸(mo)液晶(jing)顯示屏,超大(da)全(quan)圖(tu)形操作界(jie)面,每(mei)過程都(dou)非常(chang)清晰(xi)明了(le),操作人員不需要額外(wai)的(de)專業培(pei)訓(xun)就(jiu)能(neng)使(shi)用。輕輕觸(chu)摸就(jiu)能(neng)完(wan)成(cheng)整(zheng)個(ge)過(guo)程的(de)測量。
4、存儲數據:內部(bu)配(pei)備(bei)有(you)日(ri)歷芯片(pian)和大(da)容(rong)量存儲器,能將(jiang)檢(jian)測結果(guo)隨時(shi)保存,隨時(shi)可(ke)以查看(kan)歷(li)史記錄,並可(ke)以打印(yin)輸出(chu)。當(dang)前(qian)時(shi)間(jian)和存儲時(shi)間(jian)都(dou)能隨時(shi)顯示和打印(yin)。
5、科(ke)學(xue)*的(de)數據管理(li):儀器(qi)數據可(ke)以通過(guo)U盤導(dao)出(chu),可(ke)在(zai)任意壹臺(tai)PC機(ji)上(shang)通(tong)過(guo)專用軟件,查(zha)看(kan)和管理(li)數據。
6、儀器(qi)操作簡(jian)便(bian),測量過程由微(wei)處(chu)理(li)器控制,只要(yao)選(xuan)擇好(hao)合適的(de)測量方式,數據的(de)測量就(jiu)可(ke)在(zai)微(wei)處(chu)理(li)器控制下自(zi)動(dong)完(wan)成(cheng)。
7、壹(yi)體化(hua)機(ji)型(xing),內附標(biao)準電(dian)容和高(gao)壓電(dian)源,便(bian)於(yu)現場測試(shi),減少(shao)現(xian)場接(jie)線(xian)。
8、儀器(qi)測量準確(que)度高(gao),可(ke)滿足油介損測量要求,因此只需配備標(biao)準油(you)杯(bei),和專用測試(shi)線(xian)即可(ke)實(shi)現油介損測量。
9、具(ju)有反接(jie)線(xian)低壓(ya)屏蔽功(gong)能(neng),在220kV CVT 母線(xian)接(jie)地情況下(xia),對(dui)C11 可(ke)進(jin)行不拆(chai)線(xian)10kV反接(jie)線(xian)介損測量
10、能(neng)夠做交流(liu)耐(nai)壓(ya)試(shi)驗。方便(bian)PT,CT二(er)次(ci)做交流(liu)耐(nai)壓(ya),400V低(di)壓(ya)系統(tong)做耐(nai)壓(ya)試(shi)驗。
11、能(neng)夠識(shi)別外(wai)接(jie)高(gao)壓電(dian)源頻率(lv)40Hz~70Hz,允(yun)許(xu)用工(gong)頻電(dian)源或(huo)串(chuan)連(lian)諧(xie)振(zhen)電(dian)源做大(da)容(rong)量高(gao)電(dian)壓介損試(shi)驗。
12、具(ju)有CVT測試(shi)功(gong)能(neng),可(ke)實(shi)現CVT的(de)自(zi)激(ji)法(fa)測試(shi),可(ke)設(she)置高(gao)壓電(dian)壓/電(dian)流、低壓(ya)電(dian)壓/電(dian)流4個保護限制,確保人(ren)身(shen)、設備(bei)安全(quan)。
13、測試(shi)CVT時(shi)候,不(bu)僅(jin)能(neng)夠自動(dong)測試(shi)C1和C2的(de)電(dian)容值和介損值,而且能(neng)夠測試(shi)CVT設備(bei)的(de)總電(dian)容和介損值
14、自(zi)帶熱(re)敏(min)打印(yin)機(ji)可(ke)打印(yin)輸出(chu),帶日(ri)歷時(shi)鐘,方便(bian)用戶出(chu)測試(shi)報告, 帶有(you)U盤輸(shu)出(chu)。
15、帶(dai)計算機(ji)接(jie)口。壹(yi)臺(tai)計算機(ji)可(ke)控制32臺(tai)儀器(qi),可(ke)集(ji)成(cheng)到(dao)綜(zong)合高(gao)壓試(shi)驗車上(shang),實(shi)現測量、數據處(chu)理(li)和報表(biao)輸出(chu)。
16、接(jie)地保護功(gong)能(neng),當(dang)儀器(qi)不(bu)接(jie)地線(xian)或(huo)接(jie)地不良(liang)時(shi),儀器(qi)不(bu)進(jin)入正(zheng)常(chang)程序,不輸出(chu)高(gao)壓。過流保護功(gong)能(neng),在試(shi)品短(duan)路(lu)或(huo)擊(ji)穿(chuan)時(shi)儀器(qi)不(bu)受(shou)損(sun)壞。
17、觸(chu)電(dian)保護功(gong)能(neng),當(dang)儀器(qi)操作人員不小心觸電(dian)時(shi)候,儀器(qi)會(hui)立(li)即(ji)切(qie)斷(duan)高(gao)壓,保障(zhang)試(shi)驗人(ren)員的(de)安全(quan).
技(ji)術(shu)指標(biao)
準確(que)度: Cx: ±(讀(du)數×1%+1pF)
tgδ: ±(讀(du)數×1%+0.00040)
抗幹擾(rao)指標(biao): 變(bian)頻抗幹擾(rao),在200%幹擾(rao)下仍(reng)能達(da)到(dao)上(shang)述準確(que)度
電(dian)容量範(fan)圍: 內施(shi)高(gao)壓: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV
外(wai)施高(gao)壓: 3pF~1.5μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV
分(fen)辨率(lv): 高(gao)0.001pF,4位有效(xiao)數字(zi)
tgδ範(fan)圍: 不(bu)限,分(fen)辨率(lv)0.001%,電(dian)容、電(dian)感、電(dian)阻三(san)種(zhong)試(shi)品自(zi)動(dong)識(shi)別。
試(shi)驗電(dian)流範(fan)圍:5μA~5A
內施(shi)高(gao)壓: 設(she)定電(dian)壓範(fan)圍:0.5~10kV
大(da)輸(shu)出(chu)電(dian)流:200mA
升降(jiang)壓方式:電(dian)壓隨意設置(zhi)。比(bi)如5123V。
試(shi)驗頻(pin)率(lv): 40-70Hz單(dan)頻隨意設置(zhi)。比(bi)如48.7Hz.
50±0.1Hz到(dao)50±10Hz自(zi)動(dong)雙(shuang)變(bian)頻隨意設置(zhi)。
60±0.1Hz到(dao)60±10Hz自(zi)動(dong)雙(shuang)變(bian)頻隨意設置(zhi)。
頻(pin)率(lv)精(jing)度: ±0.01Hz
外(wai)施高(gao)壓: 正(zheng)接(jie)線(xian)時(shi)大(da)試(shi)驗電(dian)流5A,工(gong)頻或(huo)變(bian)頻40-70Hz
反(fan)接(jie)線(xian)時(shi)大(da)試(shi)驗電(dian)流10kV/5A,工(gong)頻或(huo)變(bian)頻40-70Hz
CVT自(zi)激法低(di)壓(ya)輸(shu)出(chu):輸出(chu)電(dian)壓3~50V,輸出(chu)電(dian)流3~30A
測量時(shi)間(jian): 約(yue)40s,與(yu)測量方式有(you)關
輸(shu)入電(dian)源: 180V~270VAC,50Hz±1%,市(shi)電(dian)或(huo)發電(dian)機(ji)供(gong)電(dian)
計算機(ji)接(jie)口:標(biao)準RS232接(jie)口,U盤插(cha)口(自(zi)動(dong)U盤存儲數據)。
打印(yin)機(ji):微(wei)型(xing)熱(re)敏(min)打印(yin)機(ji)
環(huan)境溫度:-10℃~50℃
相(xiang)對(dui)濕(shi)度: <90%
外(wai)形尺寸(cun):500mm*377mm*330mm
儀器(qi)重量:28kg
電(dian)話(hua)
微(wei)信掃(sao)壹掃(sao)