
產(chan)品別(bie)稱(cheng)
局(ju)放儀(yi)、局(ju)部(bu)放電(dian)測試(shi)系統
開關(guan)櫃局(ju)部(bu)放電(dian)測試(shi)儀(yi)產(chan)品(pin)概(gai)述(shu)
在(zai)電(dian)場作(zuo)用下,絕(jue)緣(yuan)系統中(zhong)只有部(bu)分區域(yu)發生(sheng)放(fang)電(dian),但尚(shang)未擊(ji)穿(chuan),(即在(zai)施(shi)加電(dian)壓(ya)的(de)導(dao)體之(zhi)間(jian)沒有擊穿(chuan))。這種(zhong)現象(xiang)稱(cheng)之(zhi)為局(ju)部(bu)放電(dian)。局部(bu)放電(dian)可能發生(sheng)在(zai)導(dao)體(ti)邊(bian)上(shang),也可能發生(sheng)在(zai)絕(jue)緣(yuan)體的(de)表(biao)面上和(he)內部(bu),發生(sheng)在(zai)表(biao)面的(de)稱(cheng)為(wei)表面局部(bu)放電(dian)。發生(sheng)在(zai)內(nei)部(bu)的(de)稱(cheng)為(wei)內部(bu)局部(bu)放電(dian)。而(er)對於被(bei)氣(qi)體(ti)包圍的(de)導(dao)體附(fu)近(jin)發生(sheng)的(de)局(ju)部(bu)放電(dian),稱(cheng)之(zhi)為電(dian)暈(yun)。局(ju)放(fang)儀(yi)運(yun)用的(de)原(yuan)理(li)是(shi)脈沖(chong)電(dian)流(liu)法(fa)原(yuan)理(li),即產生(sheng)壹次(ci)局部(bu)放電(dian)時,試(shi)品Cx兩(liang)端產生(sheng)壹個瞬(shun)時(shi)電(dian)壓(ya)變(bian)化(hua)Δu,此時若經(jing)過(guo)電(dian)Ck耦(ou)合到壹檢測(ce)阻(zu)抗Zd上(shang),回(hui)路(lu)就(jiu)會產生(sheng)壹脈沖(chong)電(dian)流(liu)I,將(jiang)脈沖(chong)電(dian)流(liu)經(jing)檢測(ce)阻(zu)抗產(chan)生(sheng)的(de)脈沖(chong)電(dian)壓(ya)信(xin)息(xi),予以(yi)檢(jian)測(ce)、放(fang)大和(he)顯(xian)示(shi)等(deng)處(chu)理(li),就(jiu)可以(yi)測(ce)定(ding)局(ju)部(bu)放電(dian)的(de)壹些基(ji)本(ben)參(can)量(liang)(主(zhu)要(yao)是(shi)放電(dian)量(liang)q)。在(zai)這(zhe)裏(li)需(xu)要指出(chu)的(de)是(shi),試品(pin)內部(bu)實(shi)際的(de)局(ju)部(bu)放電(dian)量(liang)是(shi)無法(fa)測(ce)量(liang)的(de),因(yin)為(wei)試(shi)品(pin)內部(bu)的(de)局(ju)部(bu)放電(dian)脈沖(chong)的(de)傳(chuan)輸路(lu)徑(jing)和(he)方(fang)向是(shi)極其(qi)復雜的(de),因(yin)此我們只有通(tong)過(guo)對(dui)比(bi)法(fa)來(lai)檢測試品的(de)視在(zai)放(fang)電(dian)電(dian)荷,即(ji)在(zai)測(ce)試(shi)之(zhi)前(qian)先在(zai)試(shi)品(pin)兩(liang)端註(zhu)入壹定的(de)電(dian)量(liang),調(tiao)節(jie)放大(da)倍數來(lai)建立標尺(chi),然後(hou)將(jiang)在(zai)實(shi)際電(dian)壓(ya)下(xia)收到的(de)試(shi)品內部(bu)的(de)局(ju)部(bu)放電(dian)脈沖(chong)和(he)標尺(chi)進(jin)行(xing)對比(bi),以(yi)此來(lai)得到試品的(de)視在(zai)放(fang)電(dian)電(dian)荷。
開關(guan)櫃局(ju)部(bu)放電(dian)測試(shi)儀(yi)功(gong)能(neng)特點
l 彩色顯(xian)示(shi)器(qi),雙(shuang)色顯(xian)示(shi)波形,更清(qing)晰(xi)直(zhi)觀(guan);
l 可鎖定波形,更方(fang)便仔細查(zha)看(kan)放電(dian)波形細(xi)節(jie);
l 自動測(ce)量(liang)並(bing)顯(xian)示(shi)試(shi)驗(yan)電(dian)源(yuan)時(shi)基(ji)頻(pin)率,無需(xu)手動切(qie)換;
l 配備(bei)VGA接(jie)口(kou),可外接(jie)大(da)尺(chi)寸顯(xian)示(shi)器(qi);
l 與(yu)示波管相(xiang)比(bi)壽(shou)命更長(chang);
l 具(ju)有波形鎖定、打印試(shi)驗(yan)報(bao)告功能(neng)。
技(ji)術指標
1.可測試(shi)品(pin)的(de)電(dian)容範(fan)圍:6PF—250uF
2.檢測(ce)靈敏(min)度(du)(見(jian)表格)
輸入單(dan) 元(yuan)序(xu)號 | 調 諧(xie) 電(dian) 容 | 單(dan) 位 | 靈(ling)敏度(du)(微微庫) (不(bu)對稱(cheng)電(dian)路(lu)) |
1 | 6-25-100 | 微微法(fa) | 0.02 |
2 | 25-100-400 | 微微法(fa) | 0.04 |
3 | 100-400-1500 | 微微法(fa) | 0.06 |
4 | 400-1500-6000 | 微微法(fa) | 0.1 |
5 | 1500-6000-25000 | 微微法(fa) | 0.2 |
6 | 0.006-0.025-0.1 | 微 法(fa) | 0.3 |
7 | 0.025-0.1-0.4 | 微 法(fa) | 0.5 |
8 | 0.1-0.4-1.5 | 微 法(fa) | 1.0 |
9 | 0.4-1.5-6.0 | 微 法(fa) | 1.5 |
10 | 1.5-6.0-25 | 微 法(fa) | 2.5 |
11 | 6.0-25-60 | 微 法(fa) | 5.0 |
12 | 25-60-250 | 微 法(fa) | 10 |
7R | 電(dian) 阻 | 0.5 |
3、放(fang)大器(qi)頻(pin)帶
(1)低(di)端(duan):10KHZ、20KHZ、40KHZ任選(xuan)
(2)高(gao):80KHZ、200KHZ、300KHZ任(ren)選(xuan)
4、放(fang)大(da)器增益(yi)調(tiao)節(jie)
粗調六(liu)檔(dang),檔間(jian)增益(yi)20±1dB;細(xi)調(tiao)範(fan)圍≥20dB。每(mei)檔(dang)之(zhi)間(jian)數據(ju)為10倍關(guan)系:如(ru)第(di)三(san)檔檢測(ce)數據(ju)為98,則(ze)第(di)二(er)檔顯(xian)示(shi)數據(ju)為9.8,如(ru)在(zai)第(di)三(san)檔檢測(ce)數據(ju)超過(guo)120,則(ze)應(ying)調至(zhi)第(di)二(er)檔來(lai)檢測數據(ju),所得數據(ju)應乘(cheng)以(yi)10才(cai)為(wei)實(shi)際測(ce)量(liang)值。
5、時間(jian)窗
(1)窗寬:可調範(fan)圍15°-175°
(2)窗位(wei)置:每(mei)壹窗可旋轉(zhuan)0°- 180°
(3)兩(liang)個時間(jian)窗可分別開或(huo)同(tong)時開
6、放(fang)電(dian)量(liang)表(biao)
0-10*<±3%(以(yi)滿(man)度(du)計)
7、橢(tuo)圓(yuan)時基(ji)
(1)頻(pin)率:50HZ、或(huo)外(wai)部(bu)電(dian)源(yuan)同(tong)步(任意頻(pin)率)
(2)橢(tuo)圓(yuan)旋轉(zhuan):以(yi)30°為(wei)壹檔,可作(zuo)360°旋(xuan)轉(zhuan)
(3)顯(xian)示(shi)方(fang)式:橢(tuo)圓(yuan)—直(zhi)線(xian)
8、試驗(yan)電(dian)壓(ya)表(biao)
精(jing)度(du):優於(yu)±3%(以(yi)滿(man)度(du)計)
9、體(ti)積(ji): 320×480×190(寬×深(shen)×高(gao))mm
10、重(zhong)量(liang):約(yue)15Kg
下壹產品(pin):數字(zi)交(jiao)直(zhi)流(liu)分壓(ya)器(qi)
電(dian)話
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