局部放電(dian)測試儀(yi)廠(chang)家(jia)

產(chan)品別稱

局(ju)放儀(yi)、局部放電(dian)測試系(xi)統

局部放電(dian)測試儀(yi)廠(chang)家(jia)產(chan)品概述(shu)

在(zai)電(dian)場(chang)作(zuo)用下，絕(jue)緣系(xi)統中(zhong)只(zhi)有(you)部分區(qu)域(yu)發生放電(dian)，但(dan)尚(shang)未擊(ji)穿(chuan)，（即在施加電壓(ya)的導(dao)體(ti)之(zhi)間沒有(you)擊穿(chuan)）。這(zhe)種(zhong)現象稱之(zhi)為局(ju)部放電(dian)。局部放電(dian)可能(neng)發生在導(dao)體(ti)邊上，也(ye)可能(neng)發生在絕(jue)緣體(ti)的表(biao)面(mian)上和(he)內部，發生在表(biao)面(mian)的稱為表(biao)面(mian)局部放電(dian)。發生在內(nei)部的(de)稱為內(nei)部局(ju)部放電(dian)。而對於被氣體(ti)包圍的導(dao)體(ti)附近(jin)發生的局(ju)部放電(dian)，稱之(zhi)為電(dian)暈(yun)。局(ju)放儀(yi)運用的原(yuan)理(li)是脈沖(chong)電(dian)流法原(yuan)理(li)，即產(chan)生壹次局(ju)部放電(dian)時(shi)，試品(pin)Cx兩(liang)端(duan)產(chan)生壹個(ge)瞬時(shi)電(dian)壓(ya)變化(hua)Δu，此(ci)時(shi)若(ruo)經過電(dian)Ck耦合(he)到(dao)壹(yi)檢(jian)測阻抗Zd上，回(hui)路(lu)就(jiu)會產(chan)生壹脈沖(chong)電(dian)流I，將(jiang)脈沖(chong)電(dian)流經檢測(ce)阻抗產(chan)生的脈沖(chong)電(dian)壓(ya)信(xin)息(xi)，予(yu)以(yi)檢(jian)測、放大(da)和(he)顯(xian)示等處(chu)理(li)，就(jiu)可以(yi)測(ce)定局(ju)部放電(dian)的壹(yi)些(xie)基本(ben)參(can)量(liang)（主要(yao)是放電(dian)量(liang)q）。在這(zhe)裏需(xu)要(yao)指(zhi)出(chu)的(de)是，試品(pin)內(nei)部實際(ji)的(de)局(ju)部放電(dian)量(liang)是無(wu)法測(ce)量(liang)的，因(yin)為試品(pin)內(nei)部的(de)局部放電(dian)脈沖(chong)的(de)傳輸(shu)路徑(jing)和(he)方(fang)向(xiang)是極其(qi)復雜(za)的(de)，因(yin)此(ci)我(wo)們只(zhi)有(you)通過對比(bi)法來(lai)檢測(ce)試品(pin)的(de)視(shi)在放電(dian)電荷，即在測(ce)試之(zhi)前先在(zai)試品(pin)兩(liang)端(duan)註入(ru)壹(yi)定的電量(liang)，調節(jie)放大(da)倍(bei)數(shu)來建(jian)立(li)標尺，然後(hou)將(jiang)在(zai)實際(ji)電(dian)壓(ya)下收(shou)到(dao)的試品(pin)內(nei)部的(de)局部放電(dian)脈沖(chong)和(he)標尺進行對比(bi)，以(yi)此(ci)來(lai)得到試品(pin)的(de)視(shi)在放電(dian)電荷。

局部放電(dian)測試儀(yi)廠(chang)家(jia)功能(neng)特(te)點(dian)

l 彩色顯(xian)示器，雙(shuang)色顯(xian)示波形，更(geng)清(qing)晰(xi)直(zhi)觀；

l 可鎖定(ding)波形(xing)，更(geng)方(fang)便仔(zai)細查看放電(dian)波形(xing)細節(jie)；

l 自(zi)動測量(liang)並顯(xian)示試驗(yan)電源時(shi)基(ji)頻率(lv)，無(wu)需(xu)手(shou)動切(qie)換(huan)；

l 配(pei)備VGA接口(kou)，可外(wai)接(jie)大(da)尺(chi)寸顯(xian)示器；

l 與(yu)示(shi)波(bo)管相比(bi)壽命更(geng)長(chang)；

l 具有(you)波形(xing)鎖定(ding)、打(da)印試驗(yan)報告(gao)功(gong)能。

技術指(zhi)標

1．可測(ce)試品(pin)的(de)電(dian)容(rong)範圍：6PF—250uF

2．檢(jian)測靈(ling)敏(min)度(du)（見表格(ge)）

3、放大(da)器頻帶(dai)

（1）低(di)端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選(xuan)

（2）高：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選(xuan)

4、放大(da)器增益調節(jie)

粗(cu)調六(liu)檔，檔間增益20±1dB；細調範圍≥20dB。每(mei)檔之(zhi)間數(shu)據為10倍(bei)關系(xi)：如第(di)三(san)檔檢測數(shu)據為98，則(ze)第(di)二檔顯(xian)示數(shu)據為9.8，如在第(di)三(san)檔檢測數(shu)據超過120，則(ze)應調至(zhi)第(di)二檔來檢測數(shu)據，所(suo)得數(shu)據應乘以(yi)10才(cai)為實際(ji)測(ce)量(liang)值(zhi)。

5、時(shi)間窗

（1）窗寬(kuan)：可調範圍15°-175°

（2）窗位置(zhi)：每壹(yi)窗可旋(xuan)轉0°- 180°

（3）兩(liang)個(ge)時(shi)間窗可分別開或同(tong)時(shi)開

6、放電(dian)量(liang)表

0-10*<±3％（以(yi)滿度(du)計(ji)）

7、橢圓(yuan)時(shi)基(ji)

（1）頻率(lv)：50HZ、或(huo)外(wai)部電(dian)源同(tong)步（任意頻率(lv)）

（2）橢圓(yuan)旋(xuan)轉：以(yi)30°為壹(yi)檔，可作(zuo)360°旋(xuan)轉

（3）顯(xian)示方(fang)式(shi)：橢圓(yuan)—直(zhi)線(xian)

8、試驗(yan)電壓(ya)表

精度(du)：優(you)於±3％（以(yi)滿度(du)計(ji)）

9、體積(ji)： 320×480×190（寬(kuan)×深×高）mm

10、重(zhong)量(liang)：約(yue)15Kg