局(ju)放(fang)儀(yi)/多(duo)通道局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測儀(yi)

產(chan)品(pin)別稱

局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測儀(yi)、局(ju)部放(fang)電(dian)測試儀(yi)、局(ju)放(fang)儀(yi)、局(ju)部放(fang)電(dian)測試系(xi)統

局(ju)放(fang)儀(yi)/多(duo)通道局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測儀(yi)產(chan)品(pin)概(gai)述(shu)

在(zai)電(dian)場作用下(xia)，絕(jue)緣系(xi)統中只(zhi)有(you)部(bu)分(fen)區(qu)域發生放(fang)電(dian)，但尚(shang)未(wei)擊穿(chuan)，（即(ji)在(zai)施(shi)加(jia)電壓(ya)的(de)導(dao)體之間沒(mei)有(you)擊穿(chuan)）。這種(zhong)現(xian)象稱之(zhi)為(wei)局(ju)部放(fang)電(dian)。局(ju)部放(fang)電(dian)可能(neng)發生在(zai)導(dao)體邊(bian)上(shang)，也可能(neng)發生在(zai)絕(jue)緣體的表(biao)面(mian)上(shang)和內(nei)部(bu)，發生在(zai)表(biao)面(mian)的(de)稱為(wei)表(biao)面(mian)局(ju)部放(fang)電(dian)。發生在(zai)內(nei)部的稱為(wei)內部(bu)局(ju)部放(fang)電(dian)。而(er)對(dui)於(yu)被(bei)氣(qi)體包(bao)圍(wei)的(de)導體附近(jin)發生的(de)局(ju)部放(fang)電(dian)，稱(cheng)之(zhi)為(wei)電暈。局(ju)放(fang)儀(yi)運(yun)用(yong)的(de)原理(li)是(shi)脈(mai)沖(chong)電(dian)流(liu)法原理(li)，即(ji)產(chan)生壹(yi)次(ci)局(ju)部放(fang)電(dian)時(shi)，試品(pin)Cx兩(liang)端(duan)產(chan)生壹(yi)個瞬(shun)時(shi)電壓(ya)變(bian)化(hua)Δu，此時(shi)若(ruo)經(jing)過(guo)電Ck耦合到壹(yi)檢(jian)測阻抗Zd上(shang)，回(hui)路(lu)就(jiu)會產(chan)生壹(yi)脈(mai)沖(chong)電流(liu)I，將脈沖(chong)電(dian)流(liu)經(jing)檢(jian)測阻抗產(chan)生的(de)脈(mai)沖電(dian)壓(ya)信(xin)息(xi)，予以檢(jian)測、放(fang)大和顯示(shi)等(deng)處(chu)理(li)，就(jiu)可以測定(ding)局(ju)部放(fang)電(dian)的(de)壹(yi)些(xie)基本(ben)參量（主要是放(fang)電(dian)量q）。在(zai)這裏(li)需要(yao)指(zhi)出(chu)的是，試品(pin)內部(bu)實際(ji)的(de)局(ju)部放(fang)電(dian)量是無法測量的，因為(wei)試品(pin)內部(bu)的局(ju)部放(fang)電(dian)脈(mai)沖(chong)的(de)傳輸路(lu)徑(jing)和方(fang)向是極其復雜的，因(yin)此我(wo)們只有(you)通(tong)過(guo)對(dui)比(bi)法來(lai)檢測試品(pin)的視在(zai)放(fang)電(dian)電(dian)荷(he)，即(ji)在(zai)測試之(zhi)前先(xian)在(zai)試品(pin)兩(liang)端(duan)註(zhu)入壹(yi)定(ding)的(de)電量，調(tiao)節放(fang)大倍(bei)數(shu)來(lai)建(jian)立(li)標尺，然後將在(zai)實(shi)際(ji)電(dian)壓(ya)下(xia)收到的試品(pin)內部(bu)的局(ju)部放(fang)電(dian)脈(mai)沖(chong)和(he)標尺進(jin)行(xing)對(dui)比(bi)，以此來(lai)得(de)到試品(pin)的視在(zai)放(fang)電(dian)電(dian)荷(he)。

局(ju)放(fang)儀(yi)/多(duo)通道局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測儀(yi)功(gong)能(neng)特點(dian)

l 彩(cai)色(se)顯(xian)示(shi)器(qi)，雙色(se)顯(xian)示(shi)波(bo)形(xing)，更清(qing)晰(xi)直觀(guan)；

l 可鎖定(ding)波(bo)形(xing)，更方(fang)便仔細查(zha)看放(fang)電(dian)波(bo)形(xing)細節；

l 自動測量並顯示(shi)試驗電源(yuan)時(shi)基頻率(lv)，無(wu)需手(shou)動切(qie)換(huan)；

l 配(pei)備VGA接口(kou)，可外接大尺寸(cun)顯(xian)示(shi)器(qi)；

l 與示(shi)波(bo)管(guan)相比(bi)壽命更長；

l 具(ju)有(you)波(bo)形(xing)鎖(suo)定(ding)、打(da)印(yin)試驗報(bao)告功能(neng)。

技術(shu)指(zhi)標(biao)

1．可測試品(pin)的電(dian)容(rong)範(fan)圍(wei)：6PF—250uF

2．檢(jian)測靈敏(min)度（見表(biao)格(ge)）

3、放(fang)大器頻帶

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選

（2）高(gao)：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選

4、放(fang)大器增益(yi)調(tiao)節

粗調(tiao)六(liu)檔(dang)，檔(dang)間增益(yi)20±1dB；細調(tiao)範(fan)圍(wei)≥20dB。每(mei)檔之間數(shu)據(ju)為(wei)10倍(bei)關系(xi)：如第(di)三檔(dang)檢測數(shu)據(ju)為(wei)98，則第(di)二(er)檔顯示(shi)數(shu)據為(wei)9.8，如在(zai)第(di)三檔檢測數(shu)據(ju)超過(guo)120，則應(ying)調(tiao)至(zhi)第二(er)檔來(lai)檢測數(shu)據(ju)，所得(de)數(shu)據(ju)應(ying)乘(cheng)以10才為(wei)實際(ji)測量值(zhi)。

5、時(shi)間窗

（1）窗寬：可調(tiao)範(fan)圍(wei)15°-175°

（2）窗位(wei)置(zhi)：每壹(yi)窗可旋(xuan)轉(zhuan)0°- 180°

（3）兩(liang)個時(shi)間窗可分(fen)別開或(huo)同時(shi)開

6、放(fang)電(dian)量表(biao)

0-10*<±3％（以(yi)滿(man)度計(ji)）

7、橢(tuo)圓時(shi)基

（1）頻率(lv)：50HZ、或(huo)外部電(dian)源(yuan)同步(bu)（任意頻(pin)率）

（2）橢(tuo)圓旋(xuan)轉(zhuan)：以(yi)30°為(wei)壹(yi)檔(dang)，可作360°旋(xuan)轉(zhuan)

（3）顯(xian)示(shi)方(fang)式：橢(tuo)圓—直線(xian)

8、試驗電壓(ya)表(biao)

精(jing)度(du)：優(you)於(yu)±3％（以滿(man)度(du)計(ji)）

9、體積(ji)： 320×480×190（寬×深(shen)×高(gao)）mm

10、重(zhong)量：約15Kg