智(zhi)能(neng)型(xing)、數(shu)字式(shi)局部放電(dian)檢(jian)測儀

產(chan)品別稱

局部放電(dian)檢(jian)測儀、局(ju)部放電(dian)測試(shi)儀、局(ju)放儀、局(ju)部放電(dian)測試(shi)系統

智(zhi)能(neng)型(xing)、數(shu)字式(shi)局部放電(dian)檢(jian)測儀產(chan)品概述

在(zai)電(dian)場作用下，絕緣系統中只有(you)部分(fen)區域發生放電(dian)，但(dan)尚未(wei)擊穿，（即(ji)在(zai)施(shi)加電(dian)壓(ya)的(de)導(dao)體(ti)之間沒(mei)有擊穿）。這(zhe)種現象稱之為(wei)局(ju)部放電(dian)。局部放電(dian)可(ke)能(neng)發(fa)生在(zai)導(dao)體(ti)邊上，也(ye)可(ke)能(neng)發(fa)生在(zai)絕緣體(ti)的表面(mian)上和內(nei)部，發生在(zai)表面(mian)的稱為(wei)表面(mian)局部放電(dian)。發生在(zai)內部的稱為(wei)內(nei)部局部放電(dian)。而對(dui)於(yu)被氣(qi)體(ti)包圍(wei)的導(dao)體(ti)附(fu)近發(fa)生的(de)局部放電(dian)，稱之為(wei)電(dian)暈。局放儀運(yun)用(yong)的原理(li)是(shi)脈(mai)沖電(dian)流(liu)法(fa)原理(li)，即(ji)產(chan)生壹(yi)次局部放電(dian)時，試(shi)品Cx兩端產(chan)生壹(yi)個(ge)瞬(shun)時(shi)電(dian)壓(ya)變化(hua)Δu，此(ci)時(shi)若(ruo)經(jing)過(guo)電(dian)Ck耦合(he)到(dao)壹檢(jian)測阻抗(kang)Zd上，回路(lu)就會(hui)產(chan)生壹(yi)脈沖(chong)電(dian)流(liu)I，將(jiang)脈(mai)沖(chong)電(dian)流(liu)經(jing)檢(jian)測阻抗(kang)產(chan)生的(de)脈沖(chong)電(dian)壓(ya)信息，予以檢(jian)測、放大(da)和顯示(shi)等處理(li)，就可(ke)以測定局(ju)部放電(dian)的壹些(xie)基(ji)本參量(liang)（主要(yao)是(shi)放電(dian)量(liang)q）。在這(zhe)裏需要(yao)指(zhi)出的是(shi)，試(shi)品內部實際(ji)的(de)局(ju)部放電(dian)量(liang)是無(wu)法測量(liang)的，因(yin)為(wei)試(shi)品內部的局(ju)部放電(dian)脈沖的傳輸(shu)路(lu)徑(jing)和方(fang)向(xiang)是極其(qi)復(fu)雜(za)的(de)，因(yin)此(ci)我(wo)們(men)只有(you)通過(guo)對(dui)比法來(lai)檢(jian)測試(shi)品的視(shi)在放電(dian)電(dian)荷，即(ji)在(zai)測試(shi)之前(qian)先(xian)在試(shi)品兩端註(zhu)入(ru)壹定(ding)的電(dian)量(liang)，調(tiao)節放大(da)倍(bei)數(shu)來建立標尺(chi)，然後(hou)將在(zai)實際(ji)電(dian)壓(ya)下收(shou)到(dao)的試(shi)品內部的局(ju)部放電(dian)脈沖和標(biao)尺(chi)進(jin)行(xing)對(dui)比，以此(ci)來得(de)到(dao)試(shi)品的視(shi)在放電(dian)電(dian)荷。

智(zhi)能(neng)型(xing)、數(shu)字式(shi)局部放電(dian)檢(jian)測儀功(gong)能(neng)特(te)點(dian)

l 彩色顯示(shi)器，雙色顯示(shi)波(bo)形(xing)，更(geng)清晰(xi)直觀；

l 可(ke)鎖定波(bo)形(xing)，更(geng)方(fang)便(bian)仔(zai)細(xi)查看放電(dian)波(bo)形(xing)細(xi)節；

l 自動(dong)測量(liang)並(bing)顯示(shi)試(shi)驗電(dian)源(yuan)時基(ji)頻(pin)率(lv)，無(wu)需手動切換(huan)；

l 配備VGA接口(kou)，可(ke)外接大(da)尺(chi)寸(cun)顯示(shi)器；

l 與(yu)示(shi)波(bo)管(guan)相(xiang)比壽命(ming)更(geng)長；

l 具(ju)有(you)波(bo)形(xing)鎖(suo)定、打(da)印(yin)試(shi)驗報(bao)告(gao)功能(neng)。

技術指(zhi)標(biao)

1．可(ke)測試(shi)品的電(dian)容範(fan)圍(wei)：6PF—250uF

2．檢(jian)測靈敏(min)度(du)（見表格(ge)）

3、放大(da)器頻(pin)帶(dai)

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任(ren)選

（2）高：80KHZ、200KHZ、300KHZ任(ren)選

4、放大(da)器增(zeng)益(yi)調(tiao)節

粗調(tiao)六檔，檔(dang)間增(zeng)益(yi)20±1dB；細(xi)調(tiao)範圍(wei)≥20dB。每(mei)檔(dang)之(zhi)間數(shu)據(ju)為(wei)10倍(bei)關系(xi)：如第三檔檢(jian)測數(shu)據(ju)為(wei)98，則第二檔(dang)顯示(shi)數(shu)據(ju)為(wei)9.8，如在第三檔(dang)檢(jian)測數(shu)據(ju)超(chao)過(guo)120，則應調(tiao)至(zhi)第二檔(dang)來(lai)檢(jian)測數(shu)據(ju)，所(suo)得(de)數(shu)據(ju)應乘(cheng)以10才(cai)為(wei)實際(ji)測量(liang)值。

5、時(shi)間窗(chuang)

（1）窗(chuang)寬：可(ke)調(tiao)範圍(wei)15°-175°

（2）窗(chuang)位(wei)置：每(mei)壹(yi)窗(chuang)可(ke)旋轉0°- 180°

（3）兩個(ge)時(shi)間窗(chuang)可(ke)分(fen)別開或同時開

6、放電(dian)量(liang)表

0-10*<±3％（以滿(man)度計(ji)）

7、橢(tuo)圓(yuan)時(shi)基

（1）頻(pin)率(lv)：50HZ、或(huo)外部電(dian)源(yuan)同步（任(ren)意頻(pin)率(lv)）

（2）橢(tuo)圓(yuan)旋(xuan)轉：以30°為(wei)壹(yi)檔(dang)，可(ke)作360°旋轉

（3）顯示(shi)方(fang)式：橢(tuo)圓(yuan)—直(zhi)線

8、試(shi)驗電(dian)壓(ya)表

精(jing)度：優(you)於(yu)±3％（以滿(man)度計(ji)）

9、體(ti)積： 320×480×190（寬×深(shen)×高）mm

10、重量(liang)：約15Kg