智(zhi)能(neng)雙(shuang)通(tong)道(dao)數(shu)字(zi)式(shi)局部放(fang)電檢(jian)測儀(yi)

產品別(bie)稱(cheng)

局(ju)部放(fang)電檢(jian)測儀(yi)、局(ju)部放(fang)電測試儀(yi)、局(ju)放(fang)儀(yi)、局(ju)部放(fang)電測試系(xi)統

智(zhi)能(neng)雙(shuang)通(tong)道(dao)數(shu)字(zi)式(shi)局部放(fang)電檢(jian)測儀(yi)產品概述

在電(dian)場(chang)作用(yong)下(xia)，絕(jue)緣(yuan)系(xi)統中只有部分區(qu)域(yu)發生放(fang)電，但(dan)尚(shang)未擊(ji)穿，（即在施加電(dian)壓的(de)導體之(zhi)間沒(mei)有擊穿）。這(zhe)種現象稱(cheng)之(zhi)為局部放(fang)電。局(ju)部放(fang)電可能(neng)發生在(zai)導體邊(bian)上(shang)，也可能(neng)發生在(zai)絕(jue)緣(yuan)體的(de)表面(mian)上(shang)和內部，發生在(zai)表面(mian)的(de)稱(cheng)為表面(mian)局部放(fang)電。發(fa)生在(zai)內部的(de)稱(cheng)為內部局部放(fang)電。而(er)對(dui)於(yu)被氣(qi)體包圍(wei)的(de)導體附近(jin)發生的(de)局部放(fang)電，稱(cheng)之(zhi)為電暈。局放(fang)儀(yi)運(yun)用(yong)的(de)原理(li)是脈(mai)沖電(dian)流法原理(li)，即產生壹次(ci)局部放(fang)電時(shi)，試品(pin)Cx兩(liang)端(duan)產生壹個(ge)瞬時(shi)電壓(ya)變(bian)化(hua)Δu，此時(shi)若經(jing)過(guo)電(dian)Ck耦合到(dao)壹檢(jian)測阻抗(kang)Zd上(shang)，回(hui)路(lu)就(jiu)會產生壹脈(mai)沖電(dian)流I，將(jiang)脈沖電(dian)流經(jing)檢(jian)測阻抗(kang)產生的(de)脈沖電(dian)壓信息，予(yu)以(yi)檢測、放(fang)大(da)和顯示(shi)等(deng)處(chu)理(li)，就可以(yi)測定局部放(fang)電的(de)壹些(xie)基本參(can)量(liang)（主要(yao)是放(fang)電量(liang)q）。在(zai)這(zhe)裏(li)需要(yao)指出的(de)是，試(shi)品內部實際的(de)局部放(fang)電量(liang)是(shi)無(wu)法測量(liang)的(de)，因為試品(pin)內(nei)部的(de)局部放(fang)電脈(mai)沖的(de)傳輸路徑(jing)和方(fang)向(xiang)是(shi)極其(qi)復(fu)雜的(de)，因此我(wo)們只有通過對(dui)比法來檢(jian)測試品(pin)的(de)視(shi)在放(fang)電電(dian)荷，即在測試之(zhi)前(qian)先(xian)在試(shi)品(pin)兩(liang)端(duan)註(zhu)入壹定的(de)電量(liang)，調節放(fang)大(da)倍數(shu)來建立標(biao)尺，然後將(jiang)在實際電壓(ya)下(xia)收到的(de)試品(pin)內部的(de)局部放(fang)電脈(mai)沖和標尺進(jin)行對比(bi)，以(yi)此來得(de)到(dao)試品的(de)視(shi)在放(fang)電電(dian)荷。

智能(neng)雙(shuang)通(tong)道(dao)數(shu)字(zi)式(shi)局部放(fang)電檢(jian)測儀(yi)功(gong)能(neng)特(te)點(dian)

l 彩(cai)色(se)顯示(shi)器，雙(shuang)色(se)顯示(shi)波(bo)形，更清晰直(zhi)觀(guan)；

l 可鎖(suo)定波形，更方(fang)便(bian)仔(zai)細查(zha)看放(fang)電波(bo)形細節；

l 自動測量(liang)並(bing)顯示(shi)試(shi)驗電(dian)源時(shi)基頻(pin)率，無(wu)需(xu)手動切換(huan)；

l 配備VGA接(jie)口(kou)，可外(wai)接(jie)大(da)尺寸顯示(shi)器；

l 與示(shi)波(bo)管相(xiang)比壽命(ming)更長(chang)；

l 具有波形鎖(suo)定、打印試驗報(bao)告(gao)功(gong)能(neng)。

技術指(zhi)標

1．可測試品(pin)的(de)電容(rong)範圍：6PF—250uF

2．檢(jian)測靈(ling)敏(min)度(du)（見表格）

3、放(fang)大(da)器頻(pin)帶(dai)

（1）低端(duan)：10KHZ、20KHZ、40KHZ任(ren)選(xuan)

（2）高：80KHZ、200KHZ、300KHZ任(ren)選(xuan)

4、放(fang)大(da)器增(zeng)益調節

粗(cu)調六檔(dang)，檔(dang)間增(zeng)益20±1dB；細調範圍≥20dB。每(mei)檔(dang)之(zhi)間數(shu)據為10倍關(guan)系(xi)：如(ru)第三(san)檔檢測數(shu)據為98，則(ze)第二檔顯示(shi)數(shu)據為9.8，如(ru)在第三(san)檔檢測數(shu)據超過120，則(ze)應調至第二檔來檢(jian)測數(shu)據，所(suo)得(de)數(shu)據應乘(cheng)以(yi)10才為實際測量(liang)值(zhi)。

5、時(shi)間窗(chuang)

（1）窗(chuang)寬(kuan)：可調範圍15°-175°

（2）窗(chuang)位置(zhi)：每(mei)壹窗(chuang)可旋(xuan)轉(zhuan)0°- 180°

（3）兩(liang)個(ge)時(shi)間窗(chuang)可分別(bie)開(kai)或同(tong)時(shi)開(kai)

6、放(fang)電量(liang)表(biao)

0-10*<±3％（以(yi)滿(man)度(du)計）

7、橢(tuo)圓(yuan)時(shi)基

（1）頻(pin)率：50HZ、或外(wai)部電源同(tong)步(bu)（任意(yi)頻(pin)率）

（2）橢(tuo)圓(yuan)旋(xuan)轉(zhuan)：以(yi)30°為壹檔(dang)，可作360°旋(xuan)轉(zhuan)

（3）顯示(shi)方(fang)式(shi)：橢圓(yuan)—直(zhi)線(xian)

8、試驗(yan)電壓(ya)表

精(jing)度(du)：優(you)於(yu)±3％（以(yi)滿(man)度(du)計）

9、體(ti)積： 320×480×190（寬(kuan)×深×高）mm

10、重(zhong)量(liang)：約(yue)15Kg