模(mo)擬(ni)局部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)儀

產(chan)品(pin)別(bie)稱

局部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)儀、局部放(fang)電(dian)測(ce)試儀、局放(fang)儀、局部放(fang)電(dian)測(ce)試系統(tong)

模(mo)擬(ni)局部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)儀產(chan)品(pin)概(gai)述

在電(dian)場(chang)作用(yong)下(xia)，絕(jue)緣系統(tong)中只(zhi)有(you)部分區(qu)域發生放(fang)電(dian)，但(dan)尚(shang)未擊穿(chuan)，（即(ji)在施(shi)加(jia)電(dian)壓(ya)的導(dao)體之(zhi)間(jian)沒(mei)有(you)擊穿(chuan)）。這(zhe)種現象稱之(zhi)為局部放(fang)電(dian)。局部放(fang)電(dian)可能(neng)發生在導(dao)體邊上(shang)，也(ye)可能(neng)發生在絕(jue)緣體(ti)的表(biao)面(mian)上(shang)和內(nei)部(bu)，發生在表(biao)面(mian)的稱為表(biao)面(mian)局部放(fang)電(dian)。發生在內部的稱為內(nei)部局部放(fang)電(dian)。而對(dui)於(yu)被(bei)氣體包圍(wei)的導(dao)體附近(jin)發生的局部放(fang)電(dian)，稱(cheng)之(zhi)為電(dian)暈(yun)。局放(fang)儀運用(yong)的原(yuan)理(li)是脈(mai)沖電(dian)流(liu)法(fa)原(yuan)理(li)，即(ji)產(chan)生壹(yi)次(ci)局部放(fang)電(dian)時(shi)，試品(pin)Cx兩(liang)端產(chan)生壹(yi)個(ge)瞬時(shi)電(dian)壓(ya)變(bian)化(hua)Δu，此(ci)時(shi)若(ruo)經(jing)過(guo)電(dian)Ck耦(ou)合到(dao)壹檢(jian)測(ce)阻(zu)抗(kang)Zd上(shang)，回(hui)路就(jiu)會產(chan)生壹(yi)脈(mai)沖電(dian)流(liu)I，將(jiang)脈(mai)沖電(dian)流(liu)經(jing)檢(jian)測(ce)阻(zu)抗(kang)產(chan)生的脈沖電(dian)壓(ya)信(xin)息，予以(yi)檢(jian)測(ce)、放(fang)大和顯(xian)示(shi)等處(chu)理(li)，就(jiu)可以(yi)測定(ding)局部放(fang)電(dian)的壹些基(ji)本參量（主(zhu)要(yao)是放(fang)電(dian)量(liang)q）。在這(zhe)裏需(xu)要(yao)指(zhi)出(chu)的是，試品(pin)內(nei)部實際的局部放(fang)電(dian)量(liang)是無(wu)法(fa)測(ce)量的，因為試品(pin)內(nei)部的局部放(fang)電(dian)脈(mai)沖的傳輸路徑和方(fang)向是極其(qi)復(fu)雜(za)的，因此我們(men)只(zhi)有(you)通過(guo)對(dui)比法來檢(jian)測(ce)試品(pin)的視在放(fang)電(dian)電(dian)荷(he)，即在測試之(zhi)前(qian)先(xian)在試品(pin)兩(liang)端註入(ru)壹定的電(dian)量(liang)，調節(jie)放(fang)大倍數(shu)來(lai)建(jian)立標尺，然(ran)後將(jiang)在實際電(dian)壓(ya)下(xia)收(shou)到(dao)的試品(pin)內(nei)部的局部放(fang)電(dian)脈(mai)沖和標(biao)尺進(jin)行(xing)對(dui)比，以(yi)此來(lai)得(de)到(dao)試品(pin)的視在放(fang)電(dian)電(dian)荷(he)。

模(mo)擬(ni)局部放(fang)電(dian)檢(jian)測(ce)儀功(gong)能(neng)特(te)點

l 彩(cai)色顯(xian)示器(qi)，雙色顯示(shi)波形(xing)，更清晰(xi)直(zhi)觀(guan)；

l 可鎖定波形(xing)，更方(fang)便仔細(xi)查看(kan)放(fang)電(dian)波形(xing)細節(jie)；

l 自動測量(liang)並顯示(shi)試驗電(dian)源(yuan)時(shi)基(ji)頻(pin)率，無(wu)需(xu)手動切(qie)換；

l 配(pei)備(bei)VGA接口，可外(wai)接(jie)大尺寸(cun)顯示(shi)器；

l 與示(shi)波管(guan)相比壽命更長(chang)；

l 具(ju)有(you)波形(xing)鎖定、打印(yin)試驗報(bao)告(gao)功(gong)能(neng)。

技(ji)術指(zhi)標(biao)

1．可測(ce)試品(pin)的電(dian)容(rong)範圍：6PF—250uF

2．檢(jian)測(ce)靈(ling)敏度(du)（見表(biao)格(ge)）

3、放(fang)大器頻(pin)帶(dai)

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選

（2）高：80KHZ、200KHZ、300KHZ任(ren)選

4、放(fang)大器增益(yi)調節(jie)

粗調六(liu)檔，檔間(jian)增益(yi)20±1dB；細(xi)調範圍(wei)≥20dB。每(mei)檔之(zhi)間(jian)數據(ju)為10倍關(guan)系：如(ru)第(di)三(san)檔檢(jian)測(ce)數據(ju)為98，則(ze)第二(er)檔顯示(shi)數據(ju)為9.8，如(ru)在第三檔檢(jian)測(ce)數據(ju)超過(guo)120，則(ze)應調至第(di)二(er)檔來檢(jian)測(ce)數據(ju)，所得(de)數據(ju)應乘以(yi)10才為實(shi)際測(ce)量值(zhi)。

5、時(shi)間(jian)窗

（1）窗(chuang)寬(kuan)：可調範圍(wei)15°-175°

（2）窗(chuang)位(wei)置(zhi)：每(mei)壹窗(chuang)可旋轉(zhuan)0°- 180°

（3）兩(liang)個(ge)時(shi)間(jian)窗可分別開或同(tong)時(shi)開

6、放(fang)電(dian)量(liang)表(biao)

0-10*<±3％（以(yi)滿度(du)計(ji)）

7、橢(tuo)圓時(shi)基(ji)

（1）頻(pin)率：50HZ、或外(wai)部電(dian)源(yuan)同(tong)步(bu)（任(ren)意(yi)頻(pin)率）

（2）橢(tuo)圓旋轉(zhuan)：以(yi)30°為壹(yi)檔，可作360°旋轉(zhuan)

（3）顯示(shi)方(fang)式(shi)：橢(tuo)圓—直(zhi)線(xian)

8、試驗電(dian)壓(ya)表(biao)

精(jing)度(du)：優於(yu)±3％（以(yi)滿度(du)計(ji)）

9、體(ti)積(ji)： 320×480×190（寬×深(shen)×高(gao)）mm

10、重(zhong)量：約15Kg