局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)

產(chan)品別(bie)稱(cheng)

局(ju)放儀(yi)、局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試系(xi)統(tong)

局部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)產(chan)品概(gai)述

在(zai)電(dian)場(chang)作(zuo)用(yong)下(xia)，絕(jue)緣(yuan)系(xi)統(tong)中(zhong)只有部(bu)分(fen)區域(yu)發生(sheng)放電(dian)，但尚未(wei)擊穿，（即在(zai)施(shi)加電(dian)壓(ya)的導(dao)體之(zhi)間沒有(you)擊穿）。這種現(xian)象(xiang)稱(cheng)之(zhi)為(wei)局部(bu)放電(dian)。局(ju)部(bu)放電(dian)可能(neng)發生(sheng)在(zai)導(dao)體邊上，也(ye)可能(neng)發生(sheng)在(zai)絕(jue)緣(yuan)體的表面(mian)上和(he)內(nei)部(bu)，發生(sheng)在(zai)表(biao)面(mian)的稱(cheng)為(wei)表(biao)面(mian)局部(bu)放電(dian)。發生(sheng)在(zai)內(nei)部(bu)的稱(cheng)為(wei)內(nei)部(bu)局(ju)部(bu)放電(dian)。而對(dui)於(yu)被氣(qi)體包(bao)圍(wei)的導(dao)體附(fu)近(jin)發生(sheng)的局部(bu)放電(dian)，稱(cheng)之(zhi)為(wei)電(dian)暈。局(ju)放儀(yi)運(yun)用(yong)的原理是脈沖(chong)電(dian)流(liu)法原理，即產(chan)生壹次局部(bu)放電(dian)時(shi)，試(shi)品Cx兩端(duan)產(chan)生壹個瞬(shun)時(shi)電(dian)壓(ya)變(bian)化(hua)Δu，此時(shi)若(ruo)經過電(dian)Ck耦(ou)合到(dao)壹檢測阻抗(kang)Zd上，回路就(jiu)會產(chan)生壹脈(mai)沖電(dian)流(liu)I，將脈沖(chong)電(dian)流(liu)經檢測阻抗(kang)產(chan)生的脈沖電(dian)壓(ya)信息，予以檢測、放大和顯示(shi)等(deng)處理(li)，就可以(yi)測定(ding)局(ju)部(bu)放電(dian)的壹些(xie)基本(ben)參量(liang)（主要(yao)是(shi)放電(dian)量(liang)q）。在(zai)這裏(li)需(xu)要(yao)指(zhi)出(chu)的是，試品內(nei)部(bu)實(shi)際(ji)的局部(bu)放電(dian)量(liang)是無法測量(liang)的，因(yin)為試(shi)品內(nei)部(bu)的局部(bu)放電(dian)脈(mai)沖的傳輸(shu)路(lu)徑和方向是極(ji)其復(fu)雜的，因(yin)此我(wo)們(men)只有通(tong)過對(dui)比法來檢測試(shi)品的視在(zai)放電(dian)電(dian)荷，即在(zai)測(ce)試(shi)之(zhi)前先(xian)在(zai)試(shi)品兩端(duan)註入壹定(ding)的電(dian)量(liang)，調節(jie)放大倍數來建(jian)立標尺，然(ran)後將在(zai)實(shi)際(ji)電(dian)壓(ya)下(xia)收(shou)到(dao)的試品內(nei)部(bu)的局部(bu)放電(dian)脈(mai)沖和(he)標(biao)尺進(jin)行對(dui)比，以(yi)此來(lai)得(de)到(dao)試品的視在(zai)放電(dian)電(dian)荷。

局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)功(gong)能(neng)特點

l 彩色(se)顯示(shi)器，雙色(se)顯示(shi)波(bo)形，更清(qing)晰直(zhi)觀；

l 可鎖定(ding)波(bo)形(xing)，更(geng)方便仔細查看(kan)放電(dian)波(bo)形細節(jie)；

l 自(zi)動測(ce)量並顯示(shi)試(shi)驗(yan)電(dian)源(yuan)時(shi)基(ji)頻(pin)率，無需(xu)手動(dong)切(qie)換；

l 配備(bei)VGA接口，可外(wai)接大尺寸(cun)顯示(shi)器；

l 與(yu)示(shi)波(bo)管相(xiang)比壽(shou)命更(geng)長；

l 具有波形鎖定(ding)、打(da)印(yin)試驗(yan)報(bao)告(gao)功能(neng)。

技(ji)術(shu)指(zhi)標

1．可測(ce)試品的電(dian)容範(fan)圍(wei)：6PF—250uF

2．檢測靈(ling)敏(min)度（見表格）

3、放大器頻(pin)帶(dai)

（1）低端(duan)：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選

（2）高：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選

4、放大器增(zeng)益(yi)調節(jie)

粗(cu)調(tiao)六(liu)檔(dang)，檔間增益(yi)20±1dB；細調(tiao)範(fan)圍(wei)≥20dB。每(mei)檔(dang)之(zhi)間數據為(wei)10倍關(guan)系(xi)：如(ru)第三檔檢測數據為(wei)98，則第二檔(dang)顯示(shi)數據為(wei)9.8，如(ru)在(zai)第三檔檢測數據超(chao)過(guo)120，則(ze)應(ying)調(tiao)至第二檔(dang)來(lai)檢測數據，所(suo)得(de)數據應(ying)乘(cheng)以(yi)10才(cai)為(wei)實(shi)際(ji)測量值(zhi)。

5、時(shi)間窗

（1）窗(chuang)寬：可調(tiao)範(fan)圍(wei)15°-175°

（2）窗位(wei)置：每(mei)壹窗(chuang)可旋(xuan)轉0°- 180°

（3）兩個時(shi)間窗可分(fen)別(bie)開(kai)或同時(shi)開(kai)

6、放電(dian)量(liang)表

0-10*<±3％（以(yi)滿(man)度計(ji)）

7、橢圓時(shi)基(ji)

（1）頻(pin)率：50HZ、或(huo)外部(bu)電(dian)源(yuan)同步（任(ren)意(yi)頻(pin)率）

（2）橢圓旋轉：以30°為壹檔(dang)，可作(zuo)360°旋轉

（3）顯示(shi)方式：橢圓—直(zhi)線

8、試(shi)驗(yan)電(dian)壓(ya)表

精(jing)度：優於(yu)±3％（以(yi)滿度計(ji)）

9、體積(ji)： 320×480×190（寬(kuan)×深(shen)×高）mm

10、重量：約15Kg